研究課題/領域番号 |
22510105
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研究種目 |
基盤研究(C)
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配分区分 | 補助金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
ナノ構造科学
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研究機関 | 独立行政法人物質・材料研究機構 |
研究代表者 |
田中 美代子 独立行政法人物質・材料研究機構, 表界面構造・物性ユニット, 主幹研究員 (50354329)
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研究期間 (年度) |
2010 – 2012
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研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
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配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2012年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2011年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2010年度: 3,120千円 (直接経費: 2,400千円、間接経費: 720千円)
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キーワード | 電子顕微鏡 / ナノ材料解析 / 評価 / 金属クラスター / ナノ粒子 / 酸化物基板 / 走査トンネル顕微鏡 / 界面構造 / 金属/酸化物 / SrTiO3 / 酸化・還元 / 電子線加熱 / SrTi03 |
研究概要 |
超高真空透過型電子顕微鏡と走査トンネル顕微鏡を組み合わせたシステムを用い、SrTiO3基板上に成長させたNiクラスターやナノ粒子、ナノ薄膜の構造、形態、界面構造、電気特性等を、環境を変化させながら観察した。クラスター・粒子のサイズにより、形態や界面構造が異なることや、電気特性が変化することが明らかとなった。また、酸素導入によりクラスターの形態・構造は変化するが、真空中で加熱することで復元可能であることや、電圧印可により電界誘起拡散現象が起こることを見いだした。
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