| 研究課題/領域番号 |
22540442
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
固体地球惑星物理学
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| 研究機関 | 独立行政法人宇宙航空研究開発機構 |
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研究代表者 |
岡田 達明 独立行政法人宇宙航空研究開発機構, 宇宙科学研究所, 准教授 (30321566)
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| 研究期間 (年度) |
2010 – 2012
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| 研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
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| 配分額 *注記 |
4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円)
2012年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2011年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2010年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
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| キーワード | 固体惑星探査 / 蛍光Ｘ線分光 / 月探査 / かぐや / チャンドラヤーン１号 / 表面粗さ効果 / 主要元素組成 / 蛍光X線分光 / チャンドラヤーン1号 / 蛍光エックス線 / 粗さ効果 / 角度依存性 |
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| 研究概要 |
月面の主要元素組成の分布図作成を日本・インドの月探査蛍光X線分光チームが協力して進めた。太陽活動極小期で月蛍光X線強度が低く、機器不具合も重なったため調査領域は月全球の20%であるが、アポロ月探査以来の主要元素分布(Mg/Al/Siの存在比)の調査領域を倍増させ、一部地域でCa、Ti、Feの存在度を決定した。複数の太陽角で観測できた地域がないため、粗さ効果の補正は将来の課題として残された。
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