研究課題/領域番号 |
22550027
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研究種目 |
基盤研究(C)
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配分区分 | 補助金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
物理化学
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研究機関 | 公益財団法人高輝度光科学研究センター (2012) 財団法人 高輝度光科学研究センター (2010-2011) |
研究代表者 |
豊川 秀訓 公益財団法人高輝度光科学研究センター, 制御・情報部門, 主幹研究員 (60344397)
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研究分担者 |
広野 等子 公益財団法人高輝度光科学研究センター, 制御・情報部門, 研究員 (90393313)
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研究期間 (年度) |
2010 – 2012
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研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
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配分額 *注記 |
4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円)
2012年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2011年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
2010年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
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キーワード | 化学反応 / 放射光 / XAFS / 2次元検出器 |
研究概要 |
高速・高空間分解能2次元型X線検出器を開発し、放射光実験でのX線吸収微細構造(XAFS)測定に応用した。ピクセルサイズは75μm×75μm、ピクセル数は512×1024ピクセルである。また、ダブルバッファリングにより24kHzでの高速連続露光測定を達成した。これは時間分解能として40マイクロ秒に相当する。本検出器を用いて標準試料による蛍光XAFSスペクトルを取得し、イオンチェンバーによる透過法の結果を高精度で再現することを実証した。
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