表面脱離有機分子の新規ソフトイオン化法の開発:高感度イメージング質量分析への展開

• 研究課題/領域番号: 22550091
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 分析化学
• 研究機関: 独立行政法人産業技術総合研究所
• 研究代表者: 藤原 幸雄 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (60415742)
• 研究期間 (年度): 2010 – 2012
• 研究課題ステータス: 完了 (2012年度)
• 配分額: 4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円); 2012年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円); 2011年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円); 2010年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
• キーワード: 表面分析 / 質量分析 / ソフトイオン化 / 表面・界面物性 / 分析科学 / 放射線、Ｘ線、粒子線 / 放射線、X線、粒子線

研究概要

二次イオン質量分析法(Secondary Ion Mass Spectrometry: SIMS)は、表面分析における有力な手法の一つである。本研究では、水素や炭化水素等を含有する多価の帯電液滴ビームを生成する装置を製作し、プラスの電荷を有する正極性の帯電液滴やマイナスの電荷を有する負極性の帯電液滴のサイズや価数分布を詳細に調べた。さらに、有機分子に対する SIMS 分析を実施し、生成された二次イオンを測定した。

研究成果

• [雑誌論文] Emission characteristics of a charged-droplet beam source using vacuum electrospray of an ionic liquid (2013)
  • 著者名/発表者名: Yukio Fujiwara, Naoaki Saito, Hidehiko Nonaka, Shingo Ichimura
  • 雑誌名: Surface and Interface Analysis 巻: 45巻 号: 1 ページ: 517-521
  • DOI: 10.1002/sia.5071
  • 査読あり
• [学会発表] Charged-droplet beam source using vacuum electrospray of an ionic liquid for secondary ion mass spectrometry (SIMS) (2012)
  • 著者名/発表者名: 藤原幸雄
  • 学会等名: 19th International Mass Spectrometry Conference (IMSC 2012)
  • 発表場所: 国立京都国際会館(京都市)
  • 年月日: 2012-09-17
• [学会発表] Development of an ion beam source for Cluster SIMS using vacuum electrospray of an ionic liquid (2011)
  • 著者名/発表者名: 藤原幸雄
  • 学会等名: 18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
  • 発表場所: トレント市(伊国)
  • 年月日: 2011-09-21
• [学会発表] Development of an ion beam source for Cluster SIMS using vacuum electrospray of an ionic liquid (2011)
  • 著者名/発表者名: 藤原幸雄
  • 学会等名: 18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
  • 発表場所: 伊国トレント
  • 年月日: 2011-09-21
• [学会発表] Application of an electrospray technique to Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) (2010)
  • 著者名/発表者名: 藤原幸雄
  • 学会等名: American Vacuum Society 57th International Symposium
  • 発表場所: アルバカーキ市(米国)
  • 年月日: 2010-10-19
• [学会発表] Application of an electrospray technique to Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) (2010)
  • 著者名/発表者名: 藤原幸雄
  • 学会等名: American Vacuum Society 57th International Symposium
  • 発表場所: 米国アルバカーキ市
  • 年月日: 2010-10-19
• [学会発表] Charged-droplet beam source using vacuum electrospray of an ionic liquid for secondary ion mass spectrometry (SIMS)
  • 著者名/発表者名: 藤原幸雄
  • 学会等名: 19th International Mass Spectrometry Conference (IMSC 2012)
  • 発表場所: 国立京都国際会館（京都市）