| 研究課題/領域番号 |
22560022
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 名古屋大学 |
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研究代表者 |
柚原 淳司 名古屋大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (10273294)
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| 研究期間 (年度) |
2010 – 2012
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| 研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
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| 配分額 *注記 |
4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
2012年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2011年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2010年度: 2,730千円 (直接経費: 2,100千円、間接経費: 630千円)
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| キーワード | 二次元合金 / 二次元金属 / 原子配列 / 走査型トンネル顕微鏡 / 二次元物質 / 単結晶表面 / 表面 / ビスマス / 対称性相転移 / 低速電子回折 |
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| 研究概要 |
重金属元素からなる二次元金属および二次元合金を結晶性金属表面上で創製し、その二次元原子配列の被覆率依存性や組成依存性を低速電子回折や走査型トンネル顕微鏡を用いて明らかにした。また、巨大ラシュバ効果に関する知見を得るためにフェルミ準位近傍での電子状態を計算科学的手法により評価した。
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