| 研究課題/領域番号 |
22560413
|
|---|
| 研究種目 |
基盤研究(C)
|
| 配分区分 | 補助金 |
|---|
| 応募区分 | 一般 |
|---|
| 研究分野 |
計測工学
|
|---|
| 研究機関 | 東京農工大学 |
|---|
研究代表者 |
田中 洋介 東京農工大学, 大学院・工学研究院, 順教授 (20283343)
|
|---|
| 研究分担者 |
黒川 隆志 東京農工大学, 大学院・工学研究院, 教授 (40302913)
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
2010 – 2012
|
| 研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
|
| 配分額 *注記 |
4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
2012年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2011年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2010年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
|
|---|
| キーワード | 二光子吸収 / 光ミリ波 / 変位計測 |
|---|
| 研究概要 |
ナノ材料作製やバイオ技術などでは、試料の厚さや表面粗さをナノ精度で測定する必要がある。この場合、一般に測定範囲は、数μm以内に限られる。本研究では、光ミリ波と呼ばれる光源、並びに、非線形現象の一種である二光子吸収応答を利用する手法を提案し、数mm以上の広い測定範囲にわたり、ナノ精度計測が可能なことを実験により示した。更に、この技術を発展させ、数10km遠方の光ファイバ反射点を数mの誤差で計測可能なシステムを作製した。
|
