| 研究課題/領域番号 |
22604003
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
量子ビーム科学
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| 研究機関 | 京都大学 (2012)
独立行政法人物質・材料研究機構 (2010-2011) |
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研究代表者 |
大場 洋次郎 京都大学, 原子炉実験所, 助教 (60566793)
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| 研究分担者 |
阿部 世嗣 電磁材料研究所, 光材料グループ, 主席研究員 (20202666)
大沼 繁弘 電磁材料研究所, 素形材開発材料グループ, 主席研究員 (50142633)
大沼 正人 物質・材料研究機構, 量子ビームユニット, 主席研究員 (90354208)
鈴木 淳市 総合科学研究機構, 東海事業センター, 主任研究員 (40354899)
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| 研究期間 (年度) |
2010 – 2012
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| 研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
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| 配分額 *注記 |
4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2012年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2011年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2010年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
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| キーワード | 中性子小角散乱 / X線小角散乱 / ナノグラニュラー / 合金コントラスト変調法 / 中性子小角散乱法 / X線小角散乱法 / 量子ビーム / ナノ材料 / 小角散乱 / 複合材料・物性 |
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| 研究概要 |
ナノグラニュラー薄膜の微細構造と組成分配は物理特性と密接に関係しているが、従来の測定手法では定量的な評価が困難であった。これを解決するために本研究では、中性子小角散乱法とX線小角散乱法を併用した解析手法を構築した。その結果、ナノ粒子のサイズ分布や分散状態等を見積もることが出来た。また、ナノ粒子のマトリックス間の組成分配を定量的に評価することが出来た。
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