研究課題
挑戦的萌芽研究
本研究ではSoC(System-on-Chip)内に作られている,出力にオペアンプ回路を伴うディジタル・アナログ変換器(DA変換器)を検査対象回路とし,その回路に流れる電源電流を測定し検査する電流テスト法とその検査を容易とする「検査容易化設計法」の開発を行った。その結果,従来の機能検査法よりも検査入力数が少なく,また面積オーバーヘッドの小さい検査回路でその回路が検査できることを明らかにした。
すべて 2012 2011
すべて 雑誌論文 (6件) (うち査読あり 6件) 学会発表 (5件)
Proc. of IEEE 11th International Symposium on Communications and Information Technologies
ページ: 58-63
10.1109/iscit.2011.6092183
Proc. of 2011 International Technical Conference on Circuits/ Systems, Computers and Communications
ページ: 1015-1018
RISP International Workshop on Nonlinear Circuit and Signal Processing
ページ: 13-16
Proc.of IEEE 11th International Symposium on Communications and Information Technologies
Proc.of 2011 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
Proc.RISP International Workshop on Nonlinear Circuit and Signal Processing
