研究課題/領域番号 |
22760025
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研究種目 |
若手研究(B)
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配分区分 | 補助金 |
研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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研究機関 | 東京大学 |
研究代表者 |
浜田 雅之 東京大学, 物性研究所, 技術専門職員 (00396920)
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連携研究者 |
長谷川 幸雄 東京大学, 物性研究所, 准教授 (80252493)
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研究期間 (年度) |
2010 – 2011
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研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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配分額 *注記 |
4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2011年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2010年度: 3,510千円 (直接経費: 2,700千円、間接経費: 810千円)
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キーワード | 走査プローブ顕微鏡 / スピン流 / 走査トンネルポテンショメトロリー / 原子間力顕微鏡 / エネルギー散逸測定 |
研究概要 |
スピントロニクスでは、スピン流の生成・検出技術の開発が極めて重要な課題である。近年の微細加工技術の発達によって、面内スピンバルブ構造の作成が実現されるようになり、実際にスピン流検出の報告がなされている。本研究では、走査プローブ顕微鏡(SPM)の探針を面内スピンバルブ構造における一電極とすることにより、スピン偏極トンネル電流を局所的に検出して、スピン流の空間分布を2次元的にマッピングすることを最終目標とした。我々は、その測定に必要となる走査トンネルポテンショメトリーの開発を行った。
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