固体表面におけるπ共役系の高さ制御

• 研究課題/領域番号: 22760027
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 薄膜・表面界面物性
• 研究機関: 東京農工大学
• 研究代表者: 遠藤 理 東京農工大学, 大学院・工学研究院, 助教 (30343156)
• 研究期間 (年度): 2010 – 2012
• 研究課題ステータス: 完了 (2012年度)
• 配分額: 4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円); 2012年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円); 2011年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円); 2010年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
• キーワード: 表面 / X 線吸収分光 / π共役系 / 有機薄膜 / 軟Ｘ線吸収分光 / π電子系 / 自己組織化 / グラフェン / 軟X線吸収分光

研究概要

有機分子やグラフェンなどは、新しいフレキシブルなナノデバイスの材料として重要な物質である。炭素系デバイスの電子物性を左右するπ共役系を詳細に理解するため、高さに依存したπ共役系の電子状態解析を目指し、深さ分解炭素K吸収端X線吸収微細構造分光法を開発・発展させた。吸収に比例して放出されるオージェ電子の放出角分布を解析し、白金(111)表面に作成した単層グラフェンとその上の直鎖アルカン単分子層のスペクトルの分離に成功した。

研究成果

• [雑誌論文] Separation of C K-NEXAFS Spectra for Layer-by-Layer Analysis of Carbon-Based Thin Films (2013)
  • 著者名/発表者名: O.Endo, M. Nakamura, K. Amemiya
  • 雑誌名: An n-Alkane Monolayer Adsorbed on a Monolayer Graphene Substrate Grown ona Pt(111) Surface 巻: accepted ページ: 27-31
  • DOI: 10.1016/j.elspec.2013.05.003
  • 査読あり
• [雑誌論文] Depth-dependent C K-NEXAFS spectra for self-assembled monolayers of 4-methylbenzenethiol and 4-ethylbenzenethiol on Au(111) (2012)
  • 著者名/発表者名: O.Endo, M. Nakamura, K. Amemiya
  • 雑誌名: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 巻: 187 ページ: 72-76
  • DOI: 10.1016/j.elspec.2013.04.012
  • 査読あり
• [雑誌論文] Amemiya, 1D Hydrogen Bond Chain on Pt(211) Stepped Surface Observed by O K-NEXAFS Spectroscopy (2012)
  • 著者名/発表者名: O.Endo, M. Nakamura, R. Sumii, K
  • 雑誌名: The Journal of Physical Chemistry C 巻: 116 号: 26 ページ: 13980-13984
  • DOI: 10.1021/jp302509k
  • 査読あり
• [雑誌論文] Incommensurate Crystalline phase of n-Alkane Monolayers on Graphite (0001) (2011)
  • 著者名/発表者名: O.Endo, T. Horikoshi, N. Katsumata, K. Otani, T. Fujishima, H. Goto, K. Minami, K. Akaike, H. Ozaki, R. Sumii, K. Amemiya, M. Nakamura, N. Kosugi
  • 雑誌名: The Journal of Physical Chemistry C 巻: 115 号: 13 ページ: 5720-5725
  • DOI: 10.1021/jp1102143
  • 査読あり
• [雑誌論文] Orientation of n-alkane in thin films on graphite(0001) studied using C K-NEXAFS (2011)
  • 著者名/発表者名: O.Endo, H. Ozaki, R. Sumii, K. Amemiya, M. Nakamura, N. Kosugi
  • 雑誌名: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 巻: 184 ページ: 257-260
  • 査読あり
• [雑誌論文] Orientation of n-alkane in thin films on graphite (0001) studied using CK-NEXAFS (2011)
  • 著者名/発表者名: O.Endo, et al.
  • 雑誌名: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 巻: (accepted)
  • 査読あり
• [学会発表] 金(111)面におけるアルカン単分子層の脱水素反応 (2013)
  • 著者名/発表者名: 遠藤理
  • 学会等名: 日本物理学会第68回年次大会
  • 発表場所: 広島大学東広島キャンパス(広島)
  • 年月日: 2013-03-26
• [学会発表] Pt(111)面に形成した単層グラフェン上における直鎖アルカンの凝集構造 (2012)
  • 著者名/発表者名: 遠藤理
  • 学会等名: 第6回分子科学討論会
  • 発表場所: 東京大学本郷キャンパス(東京)
  • 年月日: 2012-09-18
• [学会発表] 有機単分子層の深さ分解CK-NEXAFS測定 (2012)
  • 著者名/発表者名: 遠藤理
  • 学会等名: 第15回XAFS討論会
  • 発表場所: 鳥取白兎会館(鳥取)
  • 年月日: 2012-09-11
• [学会発表] Orientation Changes of n-Alkane in a Monolayer on Graphene Modified Pt(111) Studied by C KNEXAFS (2012)
  • 著者名/発表者名: O.Endo
  • 学会等名: CMD-24, ECOSS-29, ECSCD-11, CMMP-12
  • 発表場所: エジンバラ国際会議場(イギ リス)
  • 年月日: 2012-09-06
• [学会発表] グラフェン修飾白金(111)面におけるアルカン薄膜の深さ分解CK-NEXAFS測定 (2012)
  • 著者名/発表者名: 遠藤理
  • 学会等名: 日本物理学会第67回年次大会
  • 発表場所: 関西学院大学西宮上ヶ原キャンパス(大阪)
  • 年月日: 2012-03-24
• [学会発表] グラフェン修飾白金(111)面におけるアルカン薄膜の深さ分解C K-NEXAFS測定 (2012)
  • 著者名/発表者名: 遠藤理
  • 学会等名: 日本物理学会第67回年次大会
  • 発表場所: 関西学院大学西宮上ヶ原キャンパス(兵庫)
  • 年月日: 2012-03-24
• [学会発表] 有機薄膜の深さ分解CK-NEXAFS測定 (2011)
  • 著者名/発表者名: 遠藤理
  • 学会等名: 第14回XAFS討論会
  • 発表場所: 岡崎コンファレンスセンター(愛知)
  • 年月日: 2011-09-11
• [学会発表] 有機薄膜の深さ分解C K-NEXAFS測定 (2011)
  • 著者名/発表者名: 遠藤理
  • 学会等名: 第14回XAFS討論会
  • 発表場所: 岡崎コンファレンスセンター(愛知
  • 年月日: 2011-09-11
• [学会発表] グラファイト(0001)面におけるアルカン薄膜の深さ分解CK-NEXAFS (2011)
  • 著者名/発表者名: 遠藤理
  • 学会等名: 日本物理学会第66回年次大会
  • 発表場所: 第66回年次大会講演資料公開サイト
• [学会発表] グラファイト(0001)面におけるアルカン薄膜の深さ分解C K-NEXAFS (2011)
  • 著者名/発表者名: 遠藤理
  • 学会等名: 日本物理学会第66回年次大会
  • 発表場所: (第66回年次大会講演資料公開サイト)
• [学会発表] Orientation of n-Alkane in Thin Films on Graphite (0001) Studied by C K-NEXAFS (2010)
  • 著者名/発表者名: O.Endo
  • 学会等名: 37th international Conference on Vacuum UltraViolet and X-ray Physics
  • 発表場所: Vancouver, Canada
  • 年月日: 2010-07-16
• [学会発表] Orientation of n-Alkane in Thin Films on Graphite (0001) Studied by CK-NEXAFS (2010)
  • 著者名/発表者名: O.Endo
  • 学会等名: 37^<th> international Conference on Vacuum Ultra Violet and X-ray Physics
  • 発表場所: Vancouver, Canada
  • 年月日: 2010-07-16
• [学会発表] Orientation Changes of n-Alkane in a Monolayer on Graphene Modified Pt(111) Studied by C K-NEXAFS
  • 著者名/発表者名: O. Endo
  • 学会等名: CMD-24, ECOSS-29, ECSCD-11, CMMP-12
  • 発表場所: エジンバラ国際会議場(イギリス)
• [学会発表] 有機単分子層の深さ分解C K-NEXAFS測定
  • 著者名/発表者名: 遠藤理
  • 学会等名: 第15回XAFS討論会
  • 発表場所: 鳥取白兎会館(鳥取)
• [学会発表] 金(111)面におけるアルカン単分子層の脱水素反応
  • 著者名/発表者名: 遠藤理
  • 学会等名: 日本物理学会第68回年次大会
  • 発表場所: 広島大学 東広島キャンパス（広島)