• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 前のページに戻る

二原子間に生ずる相互作用力とトンネル電流との普遍的関係性の検証

研究課題

研究課題/領域番号 22760028
研究種目

若手研究(B)

配分区分補助金
研究分野 薄膜・表面界面物性
研究機関大阪大学

研究代表者

杉本 宜昭  大阪大学, 工学(系)研究科(研究院), その他 (00432518)

研究期間 (年度) 2010 – 2011
研究課題ステータス 完了 (2011年度)
配分額 *注記
4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2011年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2010年度: 3,120千円 (直接経費: 2,400千円、間接経費: 720千円)
キーワード原子間力顕微鏡 / 走査型トンネル顕微鏡
研究概要

・原子間力顕微鏡,(AFM)で原子分解能を得るには、カンチレバーを共振周波数で振動させる周波数変調法が使われる。本研究では、カンチレバーを小さい振幅で振動させるほど、空間分解能と相互作用力測定のS/N比が向上することを理論計算で明らかにした。AFMを小振幅で動作させるためには、バネ定数が大きいカンチレバーを使う必要があるが、水晶カンチレバーをピエゾ電気で検出する従来の方式では、感度があまり上がらないことが知られている。そこで、水晶カンチレバーと光干渉方式変位検出型を組み合わせたAFMを開発し、実際に小振幅動作が可能であることを確かめた。これにより、原子分解能の像の取得に加えて、フォーススペクトロスコピーが高感度に行えることを実証した。
・Pb/si(111)-(7x7)表面上のSi原子と置換原子であるPb原子の上でトンネル電流と相互作用力の同時測定を行った。実験には、金属コートされたSiカンチレバーを使用し、室温での熱ドリフトを補償して精密な実験を行った。その結果、Si,Pb両方の原子共に、トンネル電流と相互作用力が探針-試料間距離に対して指数関数的に増大することが明らかになった。また、トンネル電流と相互作用力の距離依存性の関係であるが、距離範囲によって依存性が変化し、過去の理論で予想されるよりも複雑なものとなった。一方、理論計算では、トンネル電流と相互作用力はほぼ、同じ減衰距離を持つ指数関数で書けることが分かった。

報告書

(1件)
  • 2010 実績報告書
  • 研究成果

    (28件)

すべて 2011 2010 その他

すべて 雑誌論文 (9件) (うち査読あり 9件) 学会発表 (18件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] Lateral Manipulation of Single Defect on Insulating Surface Using Noncontact Atomic Force Microscope2011

    • 著者名/発表者名
      Insook Yi
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: Vol.50

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Observation of Subsurface Atoms of the Si(111)-(7×7) Surface by Atomic Force Microscopy2010

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Sawada
    • 雑誌名

      Appl.Phys.Express

      巻: Vol.3

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Accurate formula for conversion of tunneling current in dynamic atomic force spectroscopy2010

    • 著者名/発表者名
      J.E.Sader
    • 雑誌名

      Appl.Phys.Lett.

      巻: Vol.97

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever with an optical interferometer2010

    • 著者名/発表者名
      Kenichi Morita
    • 雑誌名

      Nanotechnology

      巻: Vol.21

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Simultaneous force and current mapping of the Si(111)-(7x7) surface by dynamic force microscopy2010

    • 著者名/発表者名
      Yoshiaki Sugimoto
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: Vol.96

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Simultaneous AFM and STM measurements on the Si(111)-(7x7) surface2010

    • 著者名/発表者名
      Yoshiaki Sugimoto
    • 雑誌名

      Physical Review B

      巻: Vol.81

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Simultaneous atomic force and scanning tunneling microscopy study of the Ge(111)-c(2×8) surface2010

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Sawada
    • 雑誌名

      Journal of Vacuum Science & Technology B

      巻: Vol.28

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] NC-AFM imaging of the TiO_2(110)-(1×1) surface at low temperature2010

    • 著者名/発表者名
      Ayhan Yurtsever
    • 雑誌名

      Nanotechnology

      巻: Vol.21

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] 単原子ペンによるナノパターンニング2010

    • 著者名/発表者名
      森田清三
    • 雑誌名

      顕微鏡

      巻: Vol.45 ページ: 51-54

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] 走査型プローブ顕微鏡を用いたナノテクノロジー2010

    • 著者名/発表者名
      杉本宜昭
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会関西支部特別企画講演会
    • 発表場所
      大阪府(池田市)
    • 年月日
      2010-12-18
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Simultaneous AFM and STM measurements at room temperature2010

    • 著者名/発表者名
      Yoshiaki Sugimoto
    • 学会等名
      The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • 発表場所
      Sizuoka, Japan (Atagawa Haitsu)(Oral ; S5-3, p.11)
    • 年月日
      2010-12-10
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Simultaneous force and current mapping of the Si(111)-(7x7) surface by dynamic force microscopy2010

    • 著者名/発表者名
      Keiichi Ueda
    • 学会等名
      The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • 発表場所
      Sizuoka, Japan (Atagawa Haitsu)(Poster ; S4-2, p.39)
    • 年月日
      2010-12-10
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Force spectroscopy on hydrogen adsorbed Si(111)-(7x7) surface using dynamic force microscopy2010

    • 著者名/発表者名
      Masaki Fukumoto
    • 学会等名
      The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • 発表場所
      Sizuoka, Japan (Atagawa Haitsu)(Poster ; S4-3, p.40)
    • 年月日
      2010-12-10
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] High spring constant cantilever for small amplitude dynamic force microscopy using an optical interferometer2010

    • 著者名/発表者名
      Kenichi Morita
    • 学会等名
      The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • 発表場所
      Sizuoka, Japan (Atagawa Haitsu)(Oral ; S5-2, p.10)
    • 年月日
      2010-12-10
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 原子間力顕微鏡を用いた水平原子操作に関わる相互作用力測定2010

    • 著者名/発表者名
      杉本宜昭
    • 学会等名
      第30回表面科学学術講演会
    • 発表場所
      大阪府(吹田市)(口頭発表;6Ap-11、p.366)
    • 年月日
      2010-11-06
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] AFM/STM同時測定における化学結合とトンネル電流の相関2010

    • 著者名/発表者名
      澤田大輔
    • 学会等名
      真空・表面科学合同講演会(第30回表面科学学術講演会・第51回真空に関する連合講演会)
    • 発表場所
      大阪府(吹田市)(Poster ; 5P-064Y、p.303)
    • 年月日
      2010-11-05
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 水晶カンチレバーと光干渉計を用いた小振幅原子間力顕微鏡測定2010

    • 著者名/発表者名
      森田健一
    • 学会等名
      第30回表面科学学術講演会
    • 発表場所
      大阪府(吹田市)(口頭発表;4Da-01S、p.58)
    • 年月日
      2010-11-04
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 水晶カンチレバーと光干渉計を用いた小振幅原子間力顕微鏡2010

    • 著者名/発表者名
      森田健一
    • 学会等名
      第71回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      長崎県長崎市(長崎大学)(ポスター;P9-19)
    • 年月日
      2010-09-16
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] AFM/STM Simultaneous Imaging of the Si4 Tetramer2010

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Sawada
    • 学会等名
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010)
    • 発表場所
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Poster ; P2-1-10, p.112)
    • 年月日
      2010-08-02
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Impact of asymmetry tip structure on NC-AFM force mapping2010

    • 著者名/発表者名
      Hong Jing Chung
    • 学会等名
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010)
    • 発表場所
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Poster ; P2-2-16, p.136)
    • 年月日
      2010-08-02
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Atom manipulation and force measurement by atomic force microscopy2010

    • 著者名/発表者名
      Hideki Tanaka
    • 学会等名
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010)
    • 発表場所
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Poster ; P2-1-14, p.116)
    • 年月日
      2010-08-02
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Measurement of atom hopping probability and interaction force during atom manipulation on the Si(111)-(7x7) surface2010

    • 著者名/発表者名
      Yoshiaki Sugimoto
    • 学会等名
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010)
    • 発表場所
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Oral ; Su-1440, p.9)
    • 年月日
      2010-08-01
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever combined with an optical interferometer2010

    • 著者名/発表者名
      Kenichi Morita
    • 学会等名
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010)
    • 発表場所
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Oral ; Su-1200, p.7)
    • 年月日
      2010-08-01
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever and an optical interferometer2010

    • 著者名/発表者名
      Kenichi Morita
    • 学会等名
      2nd Global COE Student Conference on Innovative Electronic Topics SCIENT2010
    • 発表場所
      Osaka, Japan (Suita)(Poster ; Po-01, p.50)
    • 年月日
      2010-07-28
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] NC-AFM/STM Measurements on the Semiconductor Surface2010

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Sawada
    • 学会等名
      13th International Conference on Intergranular and Interphase Boundaries in Materials
    • 発表場所
      Mie, Japan (Shima)(Poster ; P-C37, p.205)
    • 年月日
      2010-07-01
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] High spring constant cantilever with metal tip for small amplitude NC-AFM operation2010

    • 著者名/発表者名
      Kenichi Morita
    • 学会等名
      International Conference on Core Research and Engineering Science of Advanced Materials (PSI-45)
    • 発表場所
      Osaka, Japan (Suita)
    • 年月日
      2010-06-01
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 半導体表面におけるAFMISTM同時測定2010

    • 著者名/発表者名
      杉本宜昭
    • 学会等名
      社団法人日本顕微鏡学会第66回学術講演会
    • 発表場所
      愛知県名古屋市(名古屋国際会議場)(招待講演;26aC04-S)
    • 年月日
      2010-05-26
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [備考]

    • URL

      http://www.wakate.frc.eng.osaka-u.ac.jp/sugimoto/

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書

URL: 

公開日: 2010-08-23   更新日: 2016-04-21  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi