| 研究概要 |
光干渉法および光弾性法において, 1枚の画像から縞模様を解析し必要な情報を抽出することで応力・ひずみ解析を行う方法を提案する.この方法では,干渉計や偏光器から現れる光を2枚のサバール板, 1/2波長板および検光子から成る偏光解析光学系により解析する.これによりストークスベクトルの分布を得ることができる.光弾性縞や干渉縞の位相値はそのストークスベクトルから算出する.この提案する方法の有効性を検証するため,実際に光学系を構築し,干渉縞および光弾性縞の解析を行った.その結果, 1枚の画像からそれら縞画像の解析が可能であることを示した.
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