| 研究課題/領域番号 |
22760227
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
電子・電気材料工学
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| 研究機関 | 東京工業大学 |
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研究代表者 |
田口 大 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 産学官連携研究員 (00531873)
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| 研究期間 (年度) |
2010 – 2012
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| 研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
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| 配分額 *注記 |
4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円)
2012年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2011年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2010年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
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| キーワード | 電気 / 電子材料(半導体、誘電体、磁性体、超誘電体、有機物、絶縁体、超伝導体など) / 解析・評価 / 電子・電気材料 / 誘電体物性 / 電子デバイス・機器 / 長寿命化 / 有機ＥＬ / 有機薄膜太陽電池 / 劣化 / 電界誘起光第2次高調波発生法 / マックスウェル・ワグナー効果 / 有機EL / 空間電荷電界 / 誘電物性 / 電界計測 / フィルタリング / 時間分解測定 |
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| 研究概要 |
有機ELデバイス内部のキャリア(電子とホール)は、小さすぎて直接見ることはできない。本研究では時間分解EFISHG測定法という新しい方法を用いて、通常では見えないキャリアの動きを直接測定する実験方法を初めて実現した。本研究で構築したEFISHG測定系では積層有機膜界面に蓄積する界面電荷を時間分解能10ns～25msで10-7C/cm2の精度で測定できる。
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