| 研究課題/領域番号 |
22760533
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
構造・機能材料
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
井上 純哉 東京大学, 大学院・工学系研究科, 准教授 (70312973)
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| 研究期間 (年度) |
2010 – 2011
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| 研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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| 配分額 *注記 |
4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円)
2011年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2010年度: 2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
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| キーワード | その場応力測定 / 金属物性 / 計測工学 / 電子顕微鏡 |
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| 研究概要 |
近年、金属材料のさらなる高性能化を目指す上で不可欠となる極めて重要な技術として、結晶粒レベルでの不均一変形のその場観測が注目されている。しかし、現存の手法では、その場観測によるひずみ計測の空間分解能は数10nmに迫っているものの、応力測定はリアルタイムの計測はおろか、その空間分解能は1μmのオーダーにしか達していない。そこで、本研究では、材料中の応力分布をリアルタイムで計測する事を目的に、SEM-EBSP中の高次ラウエ帯反射を用いた新たな応力計測手法の検討を行い、その有効性を示した。
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