| 研究概要 |
2層が独立に電気的なコンタクトを持ったGaAs系半導体試料を作製し, 2層系量子ホール効果の層間コヒーレンスの検証を行うことを目的に実験を行った。試料の作製については,ドイツのMax Planck研究所von Klitzing教授のグループの協力を得て進めることができたが,端子のオーミックコンタクトに不良があり,磁場中で抵抗が発散してしまうなどの現象が見られたため,目標とするν=1量子ホール状態での層間コヒーレンスを検証するような実験を十分にできなかった。しかし,測定系の整備などは進めることができたため,新たな試料を用いることで研究を継続することができる状態にある。今後も引き続き測定を行う予定である。
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