燃料電池における電磁場逆解析を用いた無侵襲モニタリング手法の開発

• 研究課題/領域番号: 22860060
• 研究種目: 研究活動スタート支援
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 計測工学
• 研究機関: 東京都市大学
• 研究代表者: 岸本 喜直 東京都市大学, 工学部, 助教 (20581789)
• 研究期間 (年度): 2010 – 2011
• 研究課題ステータス: 完了 (2011年度)
• 配分額: 3,120千円 (直接経費: 2,400千円、間接経費: 720千円); 2011年度: 1,495千円 (直接経費: 1,150千円、間接経費: 345千円); 2010年度: 1,625千円 (直接経費: 1,250千円、間接経費: 375千円)
• キーワード: 計測工学 / 燃料電池 / スマートセンサ情報システム / 計算力学 / 逆問題

研究概要

発電効率や耐久性に優れた最適な電極配置や燃料濃度分布を有する燃料電池を実現するため,燃料電池内の電流密度分布の可視化が必要となっている.本研究では燃料電池を対象に,電磁場逆解析を用いた無侵襲モニタリング手法として, (1)燃料電池周辺に生じる磁場分布の効率的な計測手法, (2)計測した磁場データの中で逆解析に有益な情報を抽出する手法, (3)(1)および(2)を用い,燃料電池内の電流密度分布を推定する逆解析手法を開発した.

研究成果

• [雑誌論文] Development of an Efficient Inverse Analysis Technique for Monitoring of Electroplating Current Density on Target Region in LSI Fabrication (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Kishimoto, Y. Kobayashi, T. Ohtsuka
  • 雑誌名: JSMME 巻: 5 号: 12 ページ: 656-668
  • DOI: 10.1299/jmmp.5.656
  • NAID: 130002072376
  • ISSN: 1880-9871
  • 査読あり
• [雑誌論文] 槽内電位の効率的逆解析によるLSIめっき電流密度分布の推定 (2011)
  • 著者名/発表者名: 岸本喜直, 安部勇仁, 小林志好, 大塚年久, 天谷賢治
  • 雑誌名: 日本機械学会論文集Ａ編 巻: 77 号: 782 ページ: 1671-1686
  • DOI: 10.1299/kikaia.77.1671
  • NAID: 130001423270
  • ISSN: 0387-5008, 1884-8338
  • 査読あり
• [学会発表] An Efficient Estimation Technique of Electro-plating Current Density in LSI Fabrication Technology (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Kishimoto, Y. Abe, Y. Kobayashi, T. Ohtsuka, K. Amaya
  • 学会等名: Internation-al Conference on Advanced Technology in Experimental Mechanics 2011
  • 発表場所: Kobe(Japan)
  • 年月日: 2011-09-20
• [学会発表] An Efficient Estimation Technique of Electroplating Current Density in LSI Fabrication Technology (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Kishimoto, Y.Abe, Y.Kobayashi, T.Ohtsuka, K.Amaya
  • 学会等名: International Conference on Advanced Technology in Experimental Mechanics 2011
  • 発表場所: Kobe (Japan)
  • 年月日: 2011-09-20
• [学会発表] 電磁場逆解析によるリチウムイオン電池内の電流密度分布推定法の開発 (2011)
  • 著者名/発表者名: 石井一弥, 岸本喜直, 小林志好, 大塚年久
  • 学会等名: 日本機械学会2011年度年次大会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2011-09-12
• [学会発表] 電磁場逆解析によるリチウムイオン電池内の電流密度分布推定法の開発 (2011)
  • 著者名/発表者名: 石井一弥, 岸本喜直, 小林志好, 大塚年久
  • 学会等名: 日本機械学会2011年度年次大会
  • 発表場所: 東京工業大学(東京)
  • 年月日: 2011-09-12
• [学会発表] Development of an Efficient Inverse Analysis Technique for Monitoring of Electroplating Current Density on Target Region in LSI Fabrication (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Kishimoto, Y. Kobayashi, T. Ohtsuka
  • 学会等名: JSME/ASME 2011 International Con-ference on Materials and Processing(ICM & P2011)
  • 発表場所: Oregon(USA)
  • 年月日: 2011-06-16
• [学会発表] Development of an Efficient Inverse Analysis Technique for Monitoring of Electroplating Current Density on Target Region in LSI Fabrication (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Kishimoto, Y.Kobayashi, T.Ohtsuka
  • 学会等名: JSME/ASME 2011 International Conference on Materials and Processing (ICM&P2011)
  • 発表場所: Oregon (USA)
  • 年月日: 2011-06-16