局所分光と電気伝導測定の融合：原子層超伝導に見られる異常金属相の解明に向けて

• 研究課題/領域番号: 22H00292
• 研究種目: 基盤研究(A)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 中区分29:応用物理物性およびその関連分野
• 研究機関: 東京大学
• 研究代表者: 長谷川 幸雄 東京大学, 物性研究所, 教授 (80252493)
• 研究期間 (年度): 2022-04-01 – 2025-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2024年度)
• 配分額: 42,640千円 (直接経費: 32,800千円、間接経費: 9,840千円); 2024年度: 10,010千円 (直接経費: 7,700千円、間接経費: 2,310千円); 2023年度: 16,120千円 (直接経費: 12,400千円、間接経費: 3,720千円); 2022年度: 16,510千円 (直接経費: 12,700千円、間接経費: 3,810千円)
• キーワード: 走査トンネル顕微鏡 / 原子層超伝導 / 二次元超伝導 / 走査トンネル分光

研究開始時の研究の概要

走査トンネル顕微鏡による局所構造評価・分光測定と電気伝導測定を同時に測定することが可能な装置を開発し、単原子層二次元超伝導体をモデル系として、これまで電気伝導測定により探索されてきた種々の現象、例えば異常（量子）金属相に、対して、トンネル分光による局所分光測定を併用することにより実空間分光学的視点からの解明を進めるとともに、局所的構造欠陥やそれに伴う分光的乱れによる影響を本質的な物性から明確に識別することを試みる。