| 研究課題/領域番号 |
23350012
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物理化学
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| 研究機関 | 兵庫県立大学 |
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研究代表者 |
鳥海 幸四郎 兵庫県立大学, 物質理学研究科, 教授 (90124221)
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| 研究分担者 |
小澤 芳樹 兵庫県立大学, 大学院・物質理学研究科, 准教授 (40204200)
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| 研究期間 (年度) |
2011-04-01 – 2014-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2013年度)
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| 配分額 *注記 |
18,980千円 (直接経費: 14,600千円、間接経費: 4,380千円)
2013年度: 2,470千円 (直接経費: 1,900千円、間接経費: 570千円)
2012年度: 4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2011年度: 11,570千円 (直接経費: 8,900千円、間接経費: 2,670千円)
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| キーワード | 結晶構造解析 / 薄膜結晶 / 表面界面 / 金属錯体化学 / 放射光 / エピタキシャル結晶 / エピタキシャル液晶 |
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| 研究概要 |
ハロゲン架橋一次元白金(II,IV)混合原子価錯体を用いて、水溶液でのエピタキシャル成長により膜厚1μm程度の薄膜単結晶を作製した。エピタキシャル結晶と表面が広く平坦な基板結晶（凹凸0.15μm以下）について、放射光Ｘ線マイクロビームを用いて、すれすれ入射Ｘ線回折実験により、薄膜単結晶および結晶表面からの回折Ｘ線強度を測定した。膜結晶と基板結晶からの実測の構造因子を計算値と比較した。基板結晶のみではR値は0.04~0.10、薄膜結晶では0.53以上であった。しかし、適切に測定された反射のみではR値は0.03~0.10と、広く平坦な結晶での表面層構造解析の可能性が示唆された。
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