高性能３次元蛍光Ｘ線分析装置の開発と鑑識科学への応用

• 研究課題/領域番号: 23350034
• 研究種目: 基盤研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 分析化学
• 研究機関: 大阪市立大学
• 研究代表者: 辻 幸一 大阪市立大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 (30241566)
• 研究期間 (年度): 2011-04-01 – 2014-03-31
• 研究課題ステータス: 完了 (2013年度)
• 配分額: 19,500千円 (直接経費: 15,000千円、間接経費: 4,500千円); 2013年度: 2,730千円 (直接経費: 2,100千円、間接経費: 630千円); 2012年度: 5,590千円 (直接経費: 4,300千円、間接経費: 1,290千円); 2011年度: 11,180千円 (直接経費: 8,600千円、間接経費: 2,580千円)
• キーワード: 放射線、Ｘ線、粒子線 / 解析・評価 / 可視化 / 鑑識科学 / 蛍光Ｘ線分析 / 非破壊分析 / 共焦点顕微鏡 / 深さ方向分析 / 放射線、X線、粒子線 / 蛍光X線分析

研究概要

卓上型で高い空間分解を有する真空仕様の3次元蛍光Ｘ線分析装置の開発に成功した。薄膜標準試料を作成し、空間分解能のエネルギー依存性を評価した結果、Au L線の蛍光Ｘ線エネルギーにおいて約11ミクロンであり、世界最高レベルの性能が実現できた。この装置の特徴は非破壊的に試料内部の元素分布情報が得られることである。そこで、いくつかの層状構造を有する鑑識試料（例えば、自動車事故現場に残された自動車塗装片など）に応用し、非破壊的に深さ方向の元素分布プロファイルを得ることに成功した。

研究成果

• [雑誌論文] 共焦点型3 次元蛍光X 線分析法によるリチウムイオン二次電池の電極材料分析 (2014)
  • 著者名/発表者名: 八木良太, 平野新太郎, 辻幸一, Mareike Falk, Jurgen Janek, Ursula Fittschen
  • 雑誌名: X 線分析の進歩 巻: 45 ページ: 241-250
  • NAID: 40020066616
  • 査読あり
• [雑誌論文] 3次元蛍光X 線分析法による鉄鋼試料表面近傍の元素分布の可視化 (2014)
  • 著者名/発表者名: 辻幸一, 平野新太郎, 八木良太, 中澤隆, 秋岡幸司, 土井教史
  • 雑誌名: 鉄と鋼 巻: 100(印刷中)
  • NAID: 130004540851
  • 査読あり
• [雑誌論文] Comparison of two confocal micro-XRF spectrometers with different design aspects (2014)
  • 著者名/発表者名: S. Smolek, T. Nakazawa, A. Tabe, K. Nakano, K. Tsuji, C. Streli, and P. Wobrauschek
  • 雑誌名: X-Ray Spectrom 巻: 43 号: 2 ページ: 93-101
  • DOI: 10.1002/xrs.2521
  • 査読あり
• [雑誌論文] Elemental depth imaging of solutions for monitoring corrosion process of steel sheet by confocal micro-XRF (2014)
  • 著者名/発表者名: S. Hirano, K. Akioka, T. Doi, M. Arai, and K. Tsuji
  • 雑誌名: X-Ray Spectrom 巻: (印刷中)
  • 査読あり
• [雑誌論文] 共焦点型3 次元蛍光X 線分析法によるリチウムイオン二次電池の電極材料分析 (2014)
  • 著者名/発表者名: 八木 良太、平野 新太郎、辻 幸一、Mareike Falk、Jurgen Janek、Ursula Fittschen
  • 雑誌名: X線分析の進歩 巻: 45 ページ: 241-250
  • NAID: 40020066616
  • 査読あり
• [雑誌論文] ３次元蛍光X線分析法による鉄鋼試料表面近傍の元素分布の可視化 (2014)
  • 著者名/発表者名: 辻 幸一、平野 新太郎、八木 良太、中澤 隆、秋岡 幸司、土井 教史
  • 雑誌名: 鉄と鋼 巻: 100
  • NAID: 130004540851
  • 査読あり
• [雑誌論文] Elemental depth imaging of solutions for monitoring corrosion process of steel sheet by confocal micro-XRF (2014)
  • 著者名/発表者名: S. Hirano, K. Akioka, T. Doi, M. Arai, and K. Tsuji
  • 雑誌名: X-Ray Spectrom. 巻: 未定
  • 査読あり
• [雑誌論文] Wavelength dispersive X-ray fluorescence imaging using a high-sensitivity imaging sensor (2013)
  • 著者名/発表者名: T. Ohmori, S. Kato, M. Doi, T. Shoji, and K. Tsuji
  • 雑誌名: Spectrochim. Acta, B 巻: 83-84 ページ: 56-60
  • DOI: 10.1016/j.sab.2013.02.002
  • 査読あり
• [雑誌論文] Depth-selective elemental imaging of microSD card by confocal micro-XRF analysis (2013)
  • 著者名/発表者名: T. Nakazawa and K. Tsuji
  • 雑誌名: X-Ray Spectrom 巻: 42 号: 3 ページ: 123-127
  • DOI: 10.1002/xrs.2442
  • 査読あり
• [雑誌論文] Development of a high resolution confocal micro-XRF instrument equipped with a vacuum chamber (2013)
  • 著者名/発表者名: T. Nakazawa and K. Tsuji
  • 雑誌名: X-Ray Spectrom 巻: 42 号: 5 ページ: 374-379
  • DOI: 10.1002/xrs.2458
  • 査読あり
• [雑誌論文] 「蛍光X 線イメージング」(総説記事) (2013)
  • 著者名/発表者名: 辻幸一
  • 雑誌名: 分光研究 巻: 62 ページ: 119-127
  • 査読あり
• [雑誌論文] Fundamental Characteristics of Hybrid X-ray Focusing Optics for Micro X-ray Fluorescence Analysis (2013)
  • 著者名/発表者名: S. Komatani, K. Nakamachi, K. Nakano, S. Ohzawa, H. Uchihara, A. Bando, and K. Tsuji
  • 雑誌名: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 巻: 309 ページ: 260-263
  • DOI: 10.1016/j.nimb.2013.02.023
  • 査読あり
• [雑誌論文] Elemental depth profiling of forensic samples by confocal 3D-XRF method (2013)
  • 著者名/発表者名: S. Emoto, K. Otsuki, K. Nakano, and K. Tsuji
  • 雑誌名: Advances in X-ray Analysis 巻: 55 ページ: 217-224
  • 査読あり
• [雑誌論文] Micro X-ray Beam Produced with a Single Glass Capillary for XRF Analysis (2013)
  • 著者名/発表者名: S. Komatani, S. Hirano, T. Aoyama, Y. Yokota, H. Ueda, and K. Tsuji
  • 雑誌名: Advances in X-ray Analysis 巻: 55 ページ: 225-233
  • 査読あり
• [雑誌論文] 複合型X線光学素子を備えた微小部蛍光X線分析装置の開発と評価 (2013)
  • 著者名/発表者名: 松矢 淳宣、辻 幸一
  • 雑誌名: X線分析の進歩 巻: 44 ページ: 111-119
  • NAID: 40019659761
  • 査読あり
• [雑誌論文] Elemental Depth Analysis of Corroded Paint-Coated Steel by Confocal Micro-XRF Method (2013)
  • 著者名/発表者名: K. Nakano, K. Akioka, T. Doi, M. Arai, H. Takabe, and K. Tsuji
  • 雑誌名: ＩＳＩＪ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ 巻: 53 号: 11 ページ: 1953-1957
  • DOI: 10.2355/isijinternational.53.1953
  • NAID: 130003383826
  • ISSN: 0915-1559, 1347-5460
  • 査読あり
• [雑誌論文] 蛍光X線イメージング（総説記事) (2013)
  • 著者名/発表者名: 辻 幸一
  • 雑誌名: 分光研究 巻: 62 ページ: 119-127
  • 査読あり
• [雑誌論文] Development of 2d Dispersive Device for XRF Imaging Spectrometer (2012)
  • 著者名/発表者名: T. Ohmori, M. Hatayama, H. Takenaka, K. Tsuji
  • 雑誌名: Advances in X-ray Analysis 巻: 55 ページ: 228-233
  • 査読あり
• [雑誌論文] X-ray Spectrometry (2012)
  • 著者名/発表者名: K. Tsuji
  • 雑誌名: Anal Chem. 巻: 84 号: 2 ページ: 636-668
  • DOI: 10.1021/ac202871b
  • 査読あり
• [雑誌論文] 小型X 線分析顕微鏡の開発 (2012)
  • 著者名/発表者名: 駒谷 慎太郎、青山 朋樹、大澤 澄人、辻 幸一
  • 雑誌名: X線分析の進歩 巻: 43 ページ: 241-247
  • 査読あり
• [雑誌論文] 海水試料の全反射蛍光X 線分析における試料準備方法の検討 (2012)
  • 著者名/発表者名: 吉岡 達史、今西 由紀子、辻 幸一、高部 秀樹、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩
  • 雑誌名: X線分析の進歩 巻: 43 ページ: 211-221
  • NAID: 40019263197
  • 査読あり
• [雑誌論文] 微小部蛍光X線分析法によるアユの耳石中のSr分布解析 (2012)
  • 著者名/発表者名: 中澤 隆、中野 和彦、恩地 啓実、浪田 真由、矢持 進、辻 幸一
  • 雑誌名: 分析化学 巻: 61 ページ: 637-642
  • NAID: 10030495127
  • 査読あり
• [雑誌論文] Development of X-ray 2D dispersive device for WD-XRF imaging spectrometer (2012)
  • 著者名/発表者名: T. Ohmori, M. Hatayama, T. Ohchi, H. Ito, H. Takenaka, K. Tsuji
  • 雑誌名: Powder Diffraction 巻: 27 ページ: 71-74
  • 査読あり
• [雑誌論文] Liquid / Liquid Near Interface Analysis by Micro-XRF Using Needle-Type Collimators (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. Nishida, K. Tsuji
  • 雑誌名: Memoirs of the Faculty of Engineering Osaka City University 巻: 53 ページ: 27-30
  • NAID: 110009631593
• [雑誌論文] Development of a new confocal 3D-XRF instrument with an X-ray tube (2011)
  • 著者名/発表者名: K. Tsuji, K. Nakano
  • 雑誌名: J. Anal. At. Spectrom 巻: 26 号: 2 ページ: 305-309
  • DOI: 10.1039/c0ja00138d
  • 査読あり
• [雑誌論文] Depth Elemental Imaging of Forensic Samples by Confocal micro-XRF Method (2011)
  • 著者名/発表者名: K. Nakano, C. Nishi, K. Otsuki, Y. Nishiwaki, K. Tsuji
  • 雑誌名: Anal. Chem 巻: 83 号: 9 ページ: 3477-3483
  • DOI: 10.1021/ac1033177
  • 査読あり
• [雑誌論文] 「蛍光X 線分析法による表面界面元素分析」(総説記事) (2011)
  • 著者名/発表者名: 辻幸一
  • 雑誌名: 日本接着学会誌 巻: 47 ページ: 444-452
  • 査読あり
• [雑誌論文] 「微小部蛍光X線分析と元素イメージング」(進歩総説) (2011)
  • 著者名/発表者名: 中澤隆, 中野和彦, 辻幸一
  • 雑誌名: ぶんせき 巻: 11 ページ: 654-661
  • 査読あり
• [雑誌論文] Enhancement of XRF intensity by using Au coated glass-capillary, 54 (2011) 238-246 (2011)
  • 著者名/発表者名: T.Nakazawa, K.Nakano, M.Yoshida, K.Tsuji
  • 雑誌名: Advances in X-ray Analysis 巻: 54 ページ: 238-246
  • 査読あり
• [雑誌論文] Enhancement of XRF intensity by using Au-coated glass monocapillary (2011)
  • 著者名/発表者名: T.Nakazawa, K.Nakano, M.Yoshida, K.Tsuji
  • 雑誌名: Powder Diffraction 巻: 26 号: 2 ページ: 163-167
  • DOI: 10.1154/1.3591166
  • 査読あり
• [雑誌論文] 蛍光X線分析法による表面界面元素分析 (2011)
  • 著者名/発表者名: 辻幸一
  • 雑誌名: 日本接着学会誌 巻: 47 ページ: 444-452
  • NAID: 10030564450
  • 査読あり
• [雑誌論文] Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Imaging (2011)
  • 著者名/発表者名: K.Tsuji, T.Ohmori, M.Yamaguchi
  • 雑誌名: Anal.Chem. 巻: 83 号: 16 ページ: 6389-6394
  • DOI: 10.1021/ac201395u
  • 査読あり
• [雑誌論文] 微小部蛍光X線分析と元素イメージング (2011)
  • 著者名/発表者名: 中澤隆、中野和彦、辻幸一
  • 雑誌名: ぶんせき 巻: 11 ページ: 654-661
  • NAID: 10030723048
  • 査読あり
• [学会発表] 3次元蛍光X線分析装置の開発とその応用研究 (2014)
  • 著者名/発表者名: 辻幸一
  • 学会等名: ONSA 25周年記念講演会
  • 発表場所: 大阪大学中之島センター,大阪
  • 年月日: 2014-01-27
• [学会発表] Observation of chemical reactions in solution by confocal micro XRF technique (oral) (2014)
  • 著者名/発表者名: Kouichi Tsuji, Jigi Chin, Shintaro Hirano
  • 学会等名: European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2014)
  • 発表場所: Bologna, Italy
• [学会発表] Confocal micro-XRF analysis of electrode materials of Li-ion battery (poster) (2014)
  • 著者名/発表者名: Ryota Yagi, Shintaro Hirano, Mareike Falk, Jürgen Janek, Ursula Fittschen, Kouichi Tsuji
  • 学会等名: European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2014)
  • 発表場所: Bologna, Italy
• [学会発表] Low-Z element analysis by confocal micro-XRF instrument (poster) (2014)
  • 著者名/発表者名: Ryota Yagi, Kouichi Tsuji
  • 学会等名: European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2014)
  • 発表場所: Bologna, Italy
• [学会発表] Total reflection X-ray fluorescence analysis of halogen in liquid samples (poster) (2014)
  • 著者名/発表者名: Yuri Tabuchi, Masaki Yamanashi, Yuichiro Shimizu, Takashi Yamada,Kouichi Tsuji,
  • 学会等名: European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2014)
  • 発表場所: Bologna, Italy
• [学会発表] Wavelength-dispersive X-ray fluorescence imaging spectrometer with grazing incidence configuration (poster) (2014)
  • 著者名/発表者名: Masaki Yamanashi, Seiji Emoto, Shuichi Kato, TakashiYamada, Takashi Shoji, Kouichi Tsuji
  • 学会等名: European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2014)
  • 発表場所: Bologna, Italy
• [学会発表] Workshop-organizer and instructor on “XRF imaging" (2014)
  • 著者名/発表者名: K. Tsuji
  • 学会等名: 63rd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Big Sky, Montana, USA
  • 招待講演
• [学会発表] Workshop-instructor on “Trace Analysis” (2014)
  • 著者名/発表者名: K. Tsuji
  • 学会等名: 63rd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Big Sky, Montana, USA
  • 招待講演
• [学会発表] Wavelength dispersive XRF imaging spectrometer using polycapillary angular filter and 2D X-ray detector (oral) (2014)
  • 著者名/発表者名: K. Tsuji, M. Yamanashi, S. Kato, T. Yamada, and T. Shoji
  • 学会等名: 63rd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Big Sky, Montana, USA
• [学会発表] TXRF analysis of halogen in Japanese soy sauce and other liquid samples (oral). (2014)
  • 著者名/発表者名: K. Tsuji, Y. Tabuchi, Y. Shimizu, and T. Yamada
  • 学会等名: 63rd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Big Sky, Montana, USA
• [学会発表] 共焦点型３次元蛍光X線分析装置によるリチウムイオン電池電極材料の分析 (口頭） (2014)
  • 著者名/発表者名: 八木 良太、平野 新太郎、辻 幸一、Ursula Fittschen
  • 学会等名: 第74回分析化学討論会
  • 発表場所: 日本大学工学部、福島
• [学会発表] 斜入射配置での波長分散型蛍光X線イメージング装置の開発 (ポスター） (2014)
  • 著者名/発表者名: 山梨 眞生、辻 幸一
  • 学会等名: 第74回分析化学討論会
  • 発表場所: 日本大学工学部、福島
• [学会発表] 飲料水中のハロゲンの全反射蛍光Ｘ線分析 （ポスター） (2014)
  • 著者名/発表者名: 田渕 由莉、辻 幸一
  • 学会等名: 第74回分析化学討論会
  • 発表場所: 日本大学工学部、福島
• [学会発表] ３次元蛍光Ｘ線分析装置の開発と電池材料等への適用 (口頭） (2014)
  • 著者名/発表者名: 八木 良太、辻 幸一
  • 学会等名: 関西分析研究会 平成25年度第二回例会
  • 発表場所: 立命館大学・防災システムリサーチセンター、滋賀
• [学会発表] 共焦点三次元蛍光Ｘ線分析による鉄鋼材料の腐食挙動その場観察 （ポスター） (2014)
  • 著者名/発表者名: 陳 自義、辻 幸一
  • 学会等名: 本鉄鋼協会第167回春季講演大会
  • 発表場所: 東京工業大学大岡山キャンパス、東京
• [学会発表] 蛍光X線分析法の新たな展開 : -微量分析と元素イメージング- (2013)
  • 著者名/発表者名: 辻幸一
  • 学会等名: 第15回テクノメイトコープ公開講演会
  • 発表場所: 道頓堀ホテル,大阪
  • 年月日: 2013-07-23
• [学会発表] 3次元蛍光X 線分析法の基礎と高分子材料分析への応用 (2013)
  • 著者名/発表者名: 辻幸一
  • 学会等名: 日本分析化学会第18回高分子分析討論会
  • 発表場所: 明治大学駿河台キャンパス,東京
• [学会発表] Fast Elemental Imaging by Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Imaging Spectrometer (2013)
  • 著者名/発表者名: T. Ohmori, S. Emoto, S. Kato, M. Doi, T. Shoji, and K. Tsuji
  • 学会等名: 62nd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Westminster, Colorado, USA
• [学会発表] Forensic Investigations with Different Confocal Micro-XRF Spectrometers (2013)
  • 著者名/発表者名: S. Smolek, T. Nakazawa, K. Nakano, K. Tsuji, C. Streli, P. Wobrauschek
  • 学会等名: 62nd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Westminster, Colorado, USA
• [学会発表] Workshop-instructor on “Trace Analysis” (2013)
  • 著者名/発表者名: K. Tsuji
  • 学会等名: 62nd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Westminster, Colorado, USA
  • 招待講演
• [学会発表] Fast Elemental Imaging by Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Imaging Spectrometer (poster) (2013)
  • 著者名/発表者名: T. Ohmori, S. Emoto, S. Kato, M. Doi, T. Shoji, and K. Tsuji
  • 学会等名: 62nd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Westminster, Colorado, USA
• [学会発表] Under Film Corrosion Process of Steel Sheets Observed by Confocal Micro XRF Technique (poster) (2013)
  • 著者名/発表者名: K. Akioka, T. Doi, M. Arai, T. Nakazawa, K. Tsuji
  • 学会等名: 62nd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Westminster, Colorado, USA
• [学会発表] Forensic Investigations with Different Confocal Micro-XRF Spectrometers (poster) (2013)
  • 著者名/発表者名: S. Smolek, T. Nakazawa, K. Nakano, K. Tsuji, C. Streli, P. Wobrauschek
  • 学会等名: 62nd Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Westminster, Colorado, USA
• [学会発表] Analytical characteristics of wavelength dispersive XRF imaging with polycapillary optics and 2D detector (poster) (2013)
  • 著者名/発表者名: Seiji Emoto, Masaki Yamanashi, Takashi Shouji, Shuichi Kato, Takashi Yamada, and Kouichi Tsuji
  • 学会等名: 15th International Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2013), and the 49th Annual Conference on X-Ray Chemical Analysis
  • 発表場所: Osaka City University, Osaka, Japan
• [学会発表] 3DXRF analysis for observing corrosion process of painted coating layer on steel samples (poster) (2013)
  • 著者名/発表者名: Ryota Yagi, Jigi Chin, Koji Akioka, Masahiro Arai, Takashi Doi, Kouichi Tsuji
  • 学会等名: 15th International Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2013), and the 49th Annual Conference on X-Ray Chemical Analysis
  • 発表場所: Osaka City University, Osaka, Japan
• [学会発表] In situ 3DXRF monitoring of metal-corrosion and deposition processes near liquid/solid interface (poster) (2013)
  • 著者名/発表者名: Shintaro Hirano, Yuta Kitado, Koji Akioka, Takashi Doi, Masahiro Arai, Kouichi and Tsuji
  • 学会等名: 15th International Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2013), and the 49th Annual Conference on X-Ray Chemical Analysis
  • 発表場所: Osaka City University, Osaka, Japan
• [学会発表] 3DXRF analysis of industrial device in comparison with SEM-EDS and conventional micro-XRF (poster) (2013)
  • 著者名/発表者名: Shintaro Komatani, Aoyama Tomoki, and Kouichi Tsuji
  • 学会等名: 15th International Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2013), and the 49th Annual Conference on X-Ray Chemical Analysis
  • 発表場所: Osaka City University, Osaka, Japan
• [学会発表] ３次元蛍光X線分析法の基礎と高分子材料分析への応用 (2013)
  • 著者名/発表者名: 辻 幸一
  • 学会等名: 日本分析化学会第18回高分子分析討論会
  • 発表場所: 明治大学 駿河台キャンパス アカデミーコモン、東京
  • 招待講演
• [学会発表] 共焦点型三次元蛍光X線分析法による海水中鉄鋼腐食挙動のその場観察 (ポスター） (2013)
  • 著者名/発表者名: 平野 新太郎、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩、辻 幸一
  • 学会等名: 第73回分析化学討論会
  • 発表場所: 北海道大学函館キャンパス、北海道
• [学会発表] 波長分散型蛍光X線イメージングにおける空間分解能の評価 (ポスター） (2013)
  • 著者名/発表者名: 江本 精二、大森 崇史、加藤 秀一、堂井 真、庄司 孝、辻 幸一
  • 学会等名: 第73回分析化学討論会
  • 発表場所: 北海道大学函館キャンパス、北海道
• [学会発表] 共焦点型三次元蛍光X線分析法による鋼板塗膜下腐食の挙動観察(口頭） (2013)
  • 著者名/発表者名: 八木 良太、中澤 隆、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩、辻 幸一
  • 学会等名: 日本分析化学会第62年会
  • 発表場所: 畿大学東大阪キャンパス、大阪
• [学会発表] 真空仕様の共焦点型3次元蛍光X線分析装置の開発と塗膜鋼板における腐食挙動観察 (口頭 (2013)
  • 著者名/発表者名: 辻 幸一、八木 良太、中澤 隆、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩 「）
  • 学会等名: 日本鉄鋼協会第166回秋季講演大会
  • 発表場所: 金沢大学角間キャンパス、石川
• [学会発表] 共焦点３次元蛍光Ｘ線分析法による水溶液下での鋼の腐食挙動その場観察の試み（口頭） (2013)
  • 著者名/発表者名: 辻 幸一、平野 新太郎、中澤 隆、秋岡 幸司、高部 秀樹, 土井 教史、荒井 正浩
  • 学会等名: 製鋼第１９委員会 製鋼計測化学研究会
  • 発表場所: 早稲田大学理工キャンパス（西早稲田キャンパス）、東京
• [学会発表] 波長分散型蛍光X線イメージング分光法の提案・開発と応用可能性（ポスター） (2013)
  • 著者名/発表者名: 大森 崇史、辻 幸一
  • 学会等名: バイオインターフェース先端マテリアルの創生」第3回シンポジウム
  • 発表場所: 大阪市立大学高原記念館、大阪
• [学会発表] 波長分散型蛍光X線イメージング装置の開発と性能評価（ポスター） (2013)
  • 著者名/発表者名: 大森 崇史、辻 幸一
  • 学会等名: 日本鉄鋼協会第165回春季講演大会
  • 発表場所: 東京電機大学東京千住キャンパス、東京
• [学会発表] 波長分散型蛍光X線イメージング装置の試作 (2012)
  • 著者名/発表者名: 大森崇史、辻幸一
  • 学会等名: 平成23年度大阪市立大学大学院工学研究科「人間・環境適合型機能性オキサイド・マテリアルの新展開」プロジェクト・シンポジウム
  • 発表場所: 大阪市立大学学術情報総合センター(大阪府)(ポスター)
  • 年月日: 2012-02-17
• [学会発表] 真空仕様の共焦点三次元蛍光X 線分析装置の開発と非破壊深さ方向元素分析への応用 (2012)
  • 著者名/発表者名: 辻幸一, 中澤隆, 大槻和徳
  • 学会等名: 日本法科学技術学会 第18回学術集会
  • 発表場所: ホテルフロラシオン青山, 東京
• [学会発表] 三次元蛍光X 線分析による自動車ガラスプリント黒セラミックス片の非破壊異同識別 (2012)
  • 著者名/発表者名: 西脇芳典, 蒲生啓司, 中澤隆, 辻幸一
  • 学会等名: 日本法科学技術学会 第18回学術集会
  • 発表場所: ホテルフロラシオン青山, 東京
• [学会発表] X-ray elemental imaging with scanning and projection modes in the laboratory (2012)
  • 著者名/発表者名: K. Tsuji, T. Ohmori, T. Nakazawa
  • 学会等名: "Channeling 2012" 5th International Conference Charged and Neutral Particles Channeling Phenomena
  • 発表場所: Alghero, Italy
  • 招待講演
• [学会発表] Development of a Vacuum Confocal Micro-XRF Instrument and Its Applications (2012)
  • 著者名/発表者名: K. Tsuji, T. Nakazawa
  • 学会等名: 61st Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Denver, Colorado, USA
• [学会発表] X-Ray Micro Analysis of Environmental and Painting Samples (2012)
  • 著者名/発表者名: K. Tsuji, A. Tabe, T. Nakazawa, T. Awane
  • 学会等名: 37th edition of the International Symposium on Environmental Analytical Chemistry (ISEAC-37)
  • 発表場所: Antwerp, Belgium
  • 招待講演
• [学会発表] TXRF Analysis of Environmental and Biological Samples (2012)
  • 著者名/発表者名: K. Tsuji, S. Kaku, T. Ohmori, T. Yoshioka
  • 学会等名: 61st Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Denver, Colorado, USA
  • 招待講演
• [学会発表] Workshop “Trace/TXRF Analysis” Instructor (2012)
  • 著者名/発表者名: K. Tsuji
  • 学会等名: 61st Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Denver, Colorado, USA
  • 招待講演
• [学会発表] Development of a vacuum confocal micro-XRF instrument and 3D-XRF analysis of layered materials (2012)
  • 著者名/発表者名: K. Tsuji, T. Nakazawa, K. Akioka, T. Doi, M. Arai
  • 学会等名: International symposium on "Recent advance in analytical techniques for steelmaking industry" (RATEC2012)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 招待講演
• [学会発表] Application of Confocal Micro-XRF to Solid-Liquid Interface Analysis and Ancient Chinese Ceramics (poster) (2012)
  • 著者名/発表者名: S. Hirano, T. Yoshioka, A. Tabe, T. Nakazawa, K. Tsuji
  • 学会等名: 61st Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Denver, Colorado, USA
• [学会発表] Characterization of Layerd Materials Related to Forensic Investigation by Confocal Micro-XRF and ATR-FT-IR Imaging Techniques (poster) (2012)
  • 著者名/発表者名: T. Nakazawa, M. A. Malek, H.-W. Kang, C.-U. Ro, K. Tsuji
  • 学会等名: 61st Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Denver, Colorado, USA
• [学会発表] Micro X-Ray Beam Produced with a Single Glass Capillary for XRF Analysis (poster) (2012)
  • 著者名/発表者名: S. Komatani, S. Hirano, T. Aoyama, Y. Yokota, H. Ueda, K. Tsuji
  • 学会等名: 61st Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Denver, Colorado, USA
• [学会発表] Depth Elemental Imaging of Forensic Samples by Confocal Micro XRF Method (poster) (2012)
  • 著者名/発表者名: K. Nakano, S. Emoto, T. Nakazawa, K. Otsuki, K. Tsuji
  • 学会等名: 61st Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Denver, Colorado, USA
• [学会発表] Evaluation of analytical performance of confocal micro-XRF spectrometers (oral) (2012)
  • 著者名/発表者名: T. Nakazawa, A. Tabe, S. Smolek, C. Streli, P. Wobrauschek, K Tsuji
  • 学会等名: European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2012)
  • 発表場所: Vienna, Austria
• [学会発表] Characterization of Layered Materials by Confocal Micro-XRF and ATR-FT-IR Imaging Techniques (poster) (2012)
  • 著者名/発表者名: T. Nakazawa, M. A. Malek, H. -W. Kang, K. Tsuji, C. -U. Ro
  • 学会等名: European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2012)
  • 発表場所: Vienna, Austria
• [学会発表] Micro X-ray beam produced with a single glass capillary and a metal small ball for XRF analysis (poster) (2012)
  • 著者名/発表者名: S. Hirano, S. Komatani, K. Tsuji
  • 学会等名: European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2012)
  • 発表場所: Vienna, Austria
• [学会発表] X-ray elemental imaging by using two dimensional X-ray detector (poster) (2012)
  • 著者名/発表者名: T. Ashida, T. Ohmori, K. Tsuji
  • 学会等名: European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2012)
  • 発表場所: Vienna, Austria
• [学会発表] Depth elemental imaging of near surface of the forensic samples by confocal 3D-XRF (poster) (2012)
  • 著者名/発表者名: S. Emoto, K. Tsuji
  • 学会等名: European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS2012)
  • 発表場所: Vienna, Austria
• [学会発表] Characterization of layered materials related to forensic investigation by confocal micro-X-ray fluorescence and attenuated total reflectance FT-IR imaging (poster) (2012)
  • 著者名/発表者名: M. A. Malek, T. Nakazawa, H.-W. Kang, K. Tsuji, C.-U. Ro
  • 学会等名: 2012 Asia-Pacific Winter Conference on Plasma Spectrochemistry (2012APWC)
  • 発表場所: Jeju Island, Korea
• [学会発表] Ｘ線ＣＣＤカメラを用いた蛍光X線イメージング装置の試作と評価（ポスター） (2012)
  • 著者名/発表者名: 大森 崇史、辻 幸一
  • 学会等名: 第72回分析化学討論会
  • 発表場所: 鹿児島大学郡元キャンパス、鹿児島
• [学会発表] 複合型X線光学素子を備えた微小部蛍光X線分析装置の開発と評価（ポスター） (2012)
  • 著者名/発表者名: 松矢 淳宣、辻 幸一
  • 学会等名: 第72回分析化学討論会
  • 発表場所: 鹿児島大学郡元キャンパス、鹿児島
• [学会発表] 三次元蛍光X線分析法による水溶液中金属元素の分布解析（口頭） (2012)
  • 著者名/発表者名: 平野 新太郎、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩、高部 秀樹、辻 幸一
  • 学会等名: 日本分析化学会 第61年会
  • 発表場所: 金沢大学角間キャンパス、石川
• [学会発表] 共焦点型三次元蛍光X線分析法による法科学試料の測定とその解析（ポスター） (2012)
  • 著者名/発表者名: 江本 精二、辻 幸一
  • 学会等名: 日本分析化学会 第61年会
  • 発表場所: 金沢大学角間キャンパス、石川
• [学会発表] 真空仕様の共焦点型蛍光X線分析装置の開発とその応用（口頭) (2012)
  • 著者名/発表者名: 中澤 隆、辻 幸一
  • 学会等名: 第48回Ｘ線分析討論会
  • 発表場所: 名古屋大学東山キャンパス、愛知
• [学会発表] 波長分散型蛍光X線イメージング分光法の開発と基礎特性の評価（口頭） (2012)
  • 著者名/発表者名: 大森 崇史、加藤 秀一、堂井 真、庄司 孝、辻 幸一
  • 学会等名: 第48回Ｘ線分析討論会
  • 発表場所: 名古屋大学東山キャンパス、愛知
• [学会発表] 複合型X線光学素子を備えた微小部蛍光X線分析装置の開発と評価（その２） (2012)
  • 著者名/発表者名: 松矢 淳宣、辻 幸一
  • 学会等名: 第48回Ｘ線分析討論会
  • 発表場所: 名古屋大学東山キャンパス、愛知
• [学会発表] 斜出射蛍光X線分析装置の小型化の検討（ポスター） (2012)
  • 著者名/発表者名: 芦田 尚郁実、岡 博史、辻 幸一
  • 学会等名: 第48回Ｘ線分析討論会
  • 発表場所: 名古屋大学東山キャンパス、愛知
• [学会発表] 真空仕様の共焦点三次元蛍光X線分析装置の開発と非破壊深さ方向元素分析への応用（口頭） (2012)
  • 著者名/発表者名: 辻 幸一、中澤 隆、大槻 和徳
  • 学会等名: 日本法科学技術学会 第18回学術集会
  • 発表場所: ホテルフロラシオン青山、東京
• [学会発表] 三次元蛍光X線分析による自動車ガラスプリント黒セラミックス片の非破壊異同識別（口頭） (2012)
  • 著者名/発表者名: 西脇 芳典、蒲生 啓司、中澤 隆、辻 幸一
  • 学会等名: 日本法科学技術学会 第18回学術集会
  • 発表場所: ホテルフロラシオン青山、東京
• [学会発表] 三次元蛍光X線分析法による材料表面近傍の深さ元素イメージング (2012)
  • 著者名/発表者名: 江本精二、辻幸一
  • 学会等名: 日本鉄鋼協会平成24年第163回春季公演大会
  • 発表場所: 横浜国立大学(神奈川県)(ポスター)
• [学会発表] 二次元X線検出器を用いた試料内部の元素識別型可視化の検討 (2012)
  • 著者名/発表者名: 芦田尚郁実、辻幸一
  • 学会等名: 日本鉄鋼協会平成24年第163回春季講演大会
  • 発表場所: 横浜国立大学(神奈川県)(ポスター)
• [学会発表] ガラスキャピラリーを用いるX線ビームの微細化 (2012)
  • 著者名/発表者名: 平野新太郎、辻幸一
  • 学会等名: 日本鉄鋼協会平成24年第163回春季講演大会
  • 発表場所: 横浜国立大学(神奈川県)(ポスター)
• [学会発表] Invited talks : 3D-XRF Analysis for Industrial Samples and Projection Type XRF Imaging (2011)
  • 著者名/発表者名: K.Tsuji, T.Nakazawa
  • 学会等名: The Seminar on Characterization of Advanced Inorganic Materials with Different Methods, Shanghai Institute of Ceramics
  • 発表場所: Shanghai, China(招待講演)
  • 年月日: 2011-11-03
• [学会発表] 蛍光X 線イメージングの研究動向 (2011)
  • 著者名/発表者名: 辻幸一
  • 学会等名: 第47回X線分析討論会
  • 発表場所: 九州大学箱崎キャンパス,福岡
• [学会発表] XRF imaging using total reflection in polycapillary optics and X-ray CCD detector (2011)
  • 著者名/発表者名: K.Tsuji, M.Yamaguchi, T.Ohmori
  • 学会等名: The 14th International Conference on Total Reflection X-ray Fluorescence and Related Methods
  • 発表場所: Dortmund, Germany(招待講演)
• [学会発表] 3D-XRF Analysis of Several Forensic and Industrial Samples (2011)
  • 著者名/発表者名: K.Tsuji, C.Nishi, T.Nakazawa, K.Nakano, K.Otsuki, Y.Nishiwaki, H.Takenaka
  • 学会等名: 60th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis Denver X-ray Conference
  • 発表場所: Colorado Springs, Colorado, USA(招待講演)
• [学会発表] Invited talks : Chemical Depth Imaging by Confocal micro-XRF (2011)
  • 著者名/発表者名: T.Nakazawa, K.Nakano, K.Tsuji
  • 学会等名: The 38th FACSS conference
  • 発表場所: Reno, Nevada, USA(招待講演)
• [学会発表] Micro-XRF Analysis in Helium Atmosphere (2011)
  • 著者名/発表者名: T.Nakazawa, A.Tabe, K.Nakano, K.Tsuji
  • 学会等名: IUPAC International Congress on Analytical Sciences (ICAS) 2011
  • 発表場所: Kyoto, Japan(poster)
• [学会発表] Sample preparation of sea water for TXRF analysis (2011)
  • 著者名/発表者名: T.Yoshioka, Y.Imanishi, K.Tsuji, Y.Shimizu, T.Yamada, H.Takabe, T.Doi, K.Akioka, M.Arai
  • 学会等名: The 14th International Conference on Total Reflection X-ray Fluorescence and Related Methods
  • 発表場所: Dortmund, Germany(poster)
• [学会発表] Enhancement of XRF intensity using total reflection in Au-coated capillary optics (2011)
  • 著者名/発表者名: T.Nakazawa, K.Tsuji
  • 学会等名: The 14th International Conference on Total Reflection X-ray Fluorescence and Related Methods
  • 発表場所: Dortmund, Germany(poster)
• [学会発表] 鉄鋼材料表面近傍の非破壊的元素イメージング (2011)
  • 著者名/発表者名: 田部淳嗣、中澤隆、中野和彦、辻幸一、秋岡幸司、土井教史、荒井正浩、高部秀樹
  • 学会等名: 日本分析化学会第60年会
  • 発表場所: 名古屋大学(愛知県)(口頭)
• [学会発表] 鋼中介在物の3次元元素分析に向けた取り組み (2011)
  • 著者名/発表者名: 辻幸一、中澤隆、中野和彦、清水健一
  • 学会等名: 日本鉄鋼協会第162回秋季講演大会
  • 発表場所: 大阪大学吹田キャンパス(大阪府)(口頭)
• [学会発表] 蛍光X線イメージングの研究動向 (2011)
  • 著者名/発表者名: 辻幸一
  • 学会等名: 第47回X線分析討論会
  • 発表場所: 九州大学箱崎キャンパス(福岡県)(口頭)
• [学会発表] 共焦点型3次元蛍光X線分析による塗膜鋼板の解析及び高感度化 (2011)
  • 著者名/発表者名: 中澤隆、田部淳嗣、中野和彦、大槻和徳、秋岡幸司、土井教史、荒井正浩、高部秀樹、辻幸一
  • 学会等名: 第47回X線分析討論会
  • 発表場所: 九州大学箱崎キャンパス(福岡県)(口頭)
• [学会発表] 波長分散型蛍光X線イメージング装置の試作 (2011)
  • 著者名/発表者名: 大森崇史、辻幸一
  • 学会等名: 第47回X線分析討論会
  • 発表場所: 九州大学箱崎キャンパス(福岡県)(ポスター)
• [学会発表] 3次元蛍光X線分析法による材料表面近傍の深さ元素イメージング (2011)
  • 著者名/発表者名: 辻幸一、中澤隆、中野和彦、大槻和徳、秋岡幸司、土井教史、荒井正浩、高部秀樹
  • 学会等名: 日本金属学会2011年秋期(第149回)大会
  • 発表場所: 沖縄コンベンションセンターおよびカルチャーリゾートフェストーネ(沖縄県)(口頭)
• [学会発表] 共焦点型三次元蛍光X線分析装置による半導体の非破壊深さ分析 (2011)
  • 著者名/発表者名: 中澤隆、辻幸一
  • 学会等名: 日本金属学会2011年秋期(第149回)大会
  • 発表場所: 沖縄コンベンションセンターおよびカルチャーリゾートフェストーネ(沖縄県)(ポスター)
• [学会発表] 共焦点型三次元蛍光X線分析装置における二次励起効果の検証 (2011)
  • 著者名/発表者名: 田部淳嗣、辻幸一
  • 学会等名: 日本金属学会2011年秋期(第149回)大会
  • 発表場所: 沖縄コンベンションセンターおよびカルチャーリゾートフェストーネ(沖縄県)(ポスター)
• [学会発表] 蛍光X線分析法の新たな展開：－微量分析と元素イメージング－
  • 著者名/発表者名: 辻 幸一
  • 学会等名: 第15回テクノメイトコープ公開講演会
  • 発表場所: 道頓堀ホテル、大阪
  • 招待講演
• [学会発表] ３次元蛍光Ｘ線分析装置の開発とその応用研究
  • 著者名/発表者名: 辻 幸一
  • 学会等名: ONSA 25周年記念講演会
  • 発表場所: 大阪大学中之島センター、大阪
  • 招待講演