研究課題
基盤研究(B)
背景光に強い三次元形状計測手法の実現に向けた検討を行った。光切断法において、検波回路による背景光除去性能の最適化によりシミュレーションにより-40dBの背景光抑圧の実現可能性を示した。時間符号化二次元パタンをチップ面上でピクセル値を投影毎に読みだすことなく空間コードを得るアーキテクチャにおいて、最先端の65nmCMOSプロセスを用いて実現することで、最大4ケタ以上の光強度に対するダイナミックレンジを有し、-21dB(光強度で2ケタ以上)の背景光除去特性を実証するとともに、-5.5dBにおいて、毎秒10フレームで三次元形状計測が可能であることを示した。
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