| 研究課題/領域番号 |
23500065
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム・ネットワーク
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| 研究機関 | 広島市立大学 |
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研究代表者 |
井上 智生 広島市立大学, 情報科学研究科, 教授 (40252829)
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| 研究期間 (年度) |
2011 – 2013
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| 研究課題ステータス |
完了 (2013年度)
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| 配分額 *注記 |
3,770千円 (直接経費: 2,900千円、間接経費: 870千円)
2013年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2012年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2011年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
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| キーワード | ソフトエラー / 高位合成/動作合成 / 過渡故障 / 信頼性 / 3重系/TMR / 誤り訂正・誤り検出 / 耐故障設計 / 高位合成 / 耐過渡故障設計 / コントローラ合成 / スケジューリング / バインディング / 誤り訂正・検出 / 3重系 |
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| 研究概要 |
大規模集積回路 (LSI) の微細化により，ソフトエラー (放射線衝突による一時的な誤り) の発生が無視できなくなっている．本研究では，LSI システムに発生するソフトエラーのような過渡故障に耐性を持つ (内部の誤りを外に出さない) システムの合成法を提案する．
提案法は，動作記述を入力として，一定時間継続する過渡故障に耐性を持つレジスタ転送レベル回路を出力する．出力される回路は機能的に3重化されている．データパス部では3つのユニット間で適切に演算器を共有し，さらに，その過渡故障耐性を利用してコントローラ部も耐過渡故障化させる．従来の一般的な耐故障設計法に比べてより小さい面積で実現可能である．
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