研究課題
基盤研究(C)
アナログ回路を混載したシステムLSIのアナログ回路部分の故障検出をLSIの製造製造工程からシステムの動作時までいつでも行うことの出来る機構の開発を主たる目的として研究をおこなった。このようなシステムで多用されるアナログ/デジタル変換器をモチーフとして、その構成要素であるR-2Rラダー回路、サンプル/ホールド回路およびオペアンプ回路に関して、回路のインパルス応答に基づいた致命的な故障(回路素子の開放/短絡故障)の検出が出来る故障検出システムの開発を行い、回路シミュレーションと実チップによる試作/測定の結果、回路素子の開放/短絡故障に関しては約86~96%を検出できることを確認した。
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すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 1件) 学会発表 (9件)
IEICE Electronics Express
巻: 10 号: 23 ページ: 20130753-20130753
10.1587/elex.10.20130753
130003383503
巻: 9 号: 13 ページ: 1128-1134
10.1587/elex.9.1128
130001921154