間欠動作型故障検出システムを用いたアナログ混載ＬＳＩの高信頼化

• 研究課題/領域番号: 23500067
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 計算機システム・ネットワーク
• 研究機関: 高知工科大学
• 研究代表者: 橘 昌良 高知工科大学, 工学部, 教授 (50171715)
• 研究期間 (年度): 2011 – 2013
• 研究課題ステータス: 完了 (2013年度)
• 配分額: 4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円); 2013年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円); 2012年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円); 2011年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
• キーワード: ディペンダブルコンピューティング / Analog Mixed-Signal / Analog-Mixed-Signal / Buit-In Self Test / Analog Mixed Signal / カタストロフィック故障 / Build-In Self Test

研究概要

アナログ回路を混載したシステムＬＳＩのアナログ回路部分の故障検出をＬＳＩの製造製造工程からシステムの動作時までいつでも行うことの出来る機構の開発を主たる目的として研究をおこなった。
このようなシステムで多用されるアナログ／デジタル変換器をモチーフとして、その構成要素であるＲ－２Ｒラダー回路、サンプル／ホールド回路およびオペアンプ回路に関して、回路のインパルス応答に基づいた致命的な故障（回路素子の開放／短絡故障）の検出が出来る故障検出システムの開発を行い、回路シミュレーションと実チップによる試作／測定の結果、回路素子の開放／短絡故障に関しては約８６～９６％を検出できることを確認した。

研究成果

• [雑誌論文] A resistance matching based self-testable current-mode R-2R digital-to-analog converter (2013)
  • 著者名/発表者名: Yuan Jun, Masayoshi Tachibana
  • 雑誌名: IEICE Electronics Express 巻: 10 号: 23 ページ: 20130753-20130753
  • DOI: 10.1587/elex.10.20130753
  • NAID: 130003383503
  • ISSN: 1349-2543
• [雑誌論文] A common-mode BIST technique for fully-differential sample-and-hold circuits (2012)
  • 著者名/発表者名: Jun Yuan, Masayoshi Tachibana
  • 雑誌名: IEICE Electronics Express 巻: 9 号: 13 ページ: 1128-1134
  • DOI: 10.1587/elex.9.1128
  • NAID: 130001921154
  • ISSN: 1349-2543
  • 査読あり
• [学会発表] A two-Step BIST Scheme for Operational Amplifier (2012)
  • 著者名/発表者名: Yuan Jun, Masayoshi Tachibana
  • 学会等名: Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies (SASIMI 2011)
  • 発表場所: Beppu, Oita, Japan
  • 年月日: 2012-03-09
• [学会発表] 連続したオン状態を実現するブートストラップスイッチ回路の設計 (2012)
  • 著者名/発表者名: 西面尚彰、橘 昌良
  • 学会等名: 電子情報通信学会 回路とシステム研究会
  • 発表場所: 高知
• [学会発表] MOSトランジスタの特性ばらつき測定用TEGの設計 (2012)
  • 著者名/発表者名: 板東拓弥、橘 昌良
  • 学会等名: 電気関係学会四国支部連合大会
  • 発表場所: 徳島
• [学会発表] 電圧不感型基準電流回路のためのトリミング回路の設計 (2012)
  • 著者名/発表者名: 渡辺勇磨、橘 昌良
  • 学会等名: 電気関係学会四国支部連合大会
  • 発表場所: 徳島
• [学会発表] A BIST Scheme for Amplifier by Checking the Stable output of Transient Response (2011)
  • 著者名/発表者名: Yuan Jun, Masayoshi Tachibana
  • 学会等名: The 20th European Conference on Circuit Theory and Design
  • 発表場所: Linkoeping, Sweden
  • 年月日: 2011-08-31
• [学会発表] 低電圧バンドギャップリファレンスの設計
  • 著者名/発表者名: 坂東拓弥、橘 昌良
  • 学会等名: 平成２５年度電気関係学会四国支部連合大会
  • 発表場所: 徳島
• [学会発表] ブートストラップスイッチ回路を用いたΔΣ変調回路の設計と評価
  • 著者名/発表者名: 西面尚彰、橘 昌良
  • 学会等名: 平成２５年度電気関係学会四国支部連合大会
  • 発表場所: 徳島
• [学会発表] A BIST Scheme for Operational Amplifier by Checking the Stable Output of Transient Response
  • 著者名/発表者名: Yuan Jun, Masayoshi Tachibana
  • 学会等名: 2011 20th European Conference on Circuit Theory and Design
  • 発表場所: Linköping, Sweden
• [学会発表] A Two-Step BIST Scheme for Operational Amplifier
  • 著者名/発表者名: Yuan Jun, Masayoshi Tachibana
  • 学会等名: Workshop on Synthesis And Sistem Integration of Mixed Information technologies (SASIMI 2012)
  • 発表場所: Beppu, Oita, Japan