| 研究課題/領域番号 |
23500071
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム・ネットワーク
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| 研究機関 | 立命館大学 |
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研究代表者 |
福井 正博 立命館大学, 理工学部, 教授 (50367992)
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| 研究分担者 |
築山 修治 中央大学, 理工学部, 教授 (90142314)
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| 研究期間 (年度) |
2011 – 2013
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| 研究課題ステータス |
完了 (2013年度)
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| 配分額 *注記 |
5,070千円 (直接経費: 3,900千円、間接経費: 1,170千円)
2013年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2012年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2011年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
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| キーワード | 高信頼化 / 長寿命化 / 見える化 / 信頼性ホットスポット / 経年劣化 / タイミング解析 / 信頼性見える化 / NBTI / GPGPU / ラッシュカレント / 電源配線 / 消費電力モデル / バックワードオイラー法 / 統計的静的遅延解析 / 高信頼性 |
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| 研究概要 |
集積回路技術の進展に伴い，回路が大規模化・複雑化すると共に，物理変動によるタイミング動作保証が困難化している．本研究課題は，次世代の集積回路に対して，製造ばらつき，電源電圧，熱変動，トランジスタの経年劣化を考慮し，チップレベルでのタイミング解析を高速に行う技術の確立を目指し，
(A) パワーゲーティングによるラッシュカレントに関する信頼性ホットスポットの見える化システム，(B) トランジスタの発熱，電源配線のＩＲドロップの高速統計的解析技術の解明，(C) NBTI などの経年劣化と製造ばらつきに起因する遅延ばらつきを統一的に取り扱うことができる遅延モデルと統計的静的遅延解析手法を完成した．
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