| 研究課題/領域番号 |
23540369
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物性Ⅰ
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| 研究機関 | 和歌山大学 |
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研究代表者 |
秋元 郁子 和歌山大学, システム工学部, 准教授 (00314055)
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| 研究期間 (年度) |
2011-04-28 – 2015-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2014年度)
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| 配分額 *注記 |
5,200千円 (直接経費: 4,000千円、間接経費: 1,200千円)
2013年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2012年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
2011年度: 2,470千円 (直接経費: 1,900千円、間接経費: 570千円)
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| キーワード | 再結合発光 / パルスESR法 / DEER法 / 光励起状態 / 再結合発光過程 / 光物性 / 電子・電気材料 / 物性実験 |
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| 研究成果の概要 |
本研究は、電子や正孔がもつスピン自由度に着目し、先端的スピン計測法を用いて、半導体中にトラップされた電子と正孔の再結合確率を決める電子と正孔の空間分布を実験的に観測することを目的とした。スピン間距離を計測するための条件に合致する再結合発光系を選定し、40 K以下の低温域で電子と正孔のスピン相互作用に由来する信号変調を見いだした。解析の結果、2~4 nm程度に離れた電子と正孔がスピン双極子相互作用していることを捉えた。
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