| 研究課題/領域番号 |
23540373
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物性Ⅰ
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| 研究機関 | 九州工業大学 |
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研究代表者 |
西谷 龍介 九州工業大学, 大学院工学研究院, 教授 (50167566)
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| 研究期間 (年度) |
2011-04-28 – 2015-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2014年度)
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| 配分額 *注記 |
4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2013年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2012年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2011年度: 2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
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| キーワード | 局所光電子放出 / STM / 空気中光電子分光 / ナノスケール / プラズモン / プラズモン共鳴 / ニアフィールド / SPR / 局所光電子励起 / 光励起トンネル電流 / ナノキャビティ / トンネル発光 / 時間分解測定 / プラズモン増強 / トンネル顕微鏡 / 分子発光 / 光電子励起 / ＳＴＭ |
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| 研究成果の概要 |
ナノスケール物質評価方法として期待される、局所光電子分光や局所光反射特性評価の実現のための基礎研究を行った。局所領域での検出感度を増強するためにトンネル顕微鏡（STM）における、基板貴金属とSTM探針の間のトンネルギャップをナノスケールキャビティとして用いた。ここにおける種々の電磁場の増強を利用して、第一にナノスケール局所領域からの光励起電子電流をSTM探針により検出し、その電流の特性を評価した。第二に局所光反射率変化の測定を行うために通常のSPR装置とSTM装置を結合した装置製作を行い、STM探針効果による反射率変化をシミュレーションし、ナノスケール測定が実現できることを示した。
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