| 研究課題/領域番号 |
23540383
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物性Ⅰ
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| 研究機関 | 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構 |
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研究代表者 |
平野 馨一 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 准教授 (40218798)
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| 研究分担者 |
杉山 弘 高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 助教 (80222058)
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| 研究期間 (年度) |
2011 – 2013
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| 研究課題ステータス |
完了 (2013年度)
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| 配分額 *注記 |
5,070千円 (直接経費: 3,900千円、間接経費: 1,170千円)
2013年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2012年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2011年度: 3,120千円 (直接経費: 2,400千円、間接経費: 720千円)
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| キーワード | X線光学 / X線多波回折 / X線検光子 / X線トポグラフィー / 偏光 / 検光子 / X線 / 多波回折 / Ｘ線 |
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| 研究概要 |
放射光Ｘ線を用いた物性研究において、Ｘ線検光子は強相関物性の研究や磁性研究等に大いに有用である。しかし、これまで主に用いられてきたＸ線検光子には、1) 使用可能な波長領域が限られている、2) 円偏光に対する感度が無い、という問題点があった。そこでこの問題を解決するために、Ｘ線多波回折を利用した検光子（MBD検光子）の開発・改良を行った。さらに、その基本原理を応用して偏光制御斜入射Ｘ線トポグラフィーを開発し、エピタキシャル4H-SiC結晶表面近傍の欠陥や歪み場の観察を行った。
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