研究課題/領域番号 |
23550036
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研究種目 |
基盤研究(C)
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配分区分 | 基金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
物理化学
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研究機関 | 独立行政法人産業技術総合研究所 |
研究代表者 |
竹谷 敏 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (40357421)
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連携研究者 |
大村 亮 慶應義塾大学, 理工学部, 准教授 (70356666)
藤久 裕司 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (90357913)
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研究期間 (年度) |
2011 – 2013
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研究課題ステータス |
完了 (2013年度)
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配分額 *注記 |
5,460千円 (直接経費: 4,200千円、間接経費: 1,260千円)
2013年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2012年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2011年度: 2,730千円 (直接経費: 2,100千円、間接経費: 630千円)
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キーワード | クラスレート・ハイドレート / 包接化合物 / 結晶構造解析 / 位相コントラスト / X線イメージング / 粉末X線構造解析 / クラスレートハイドレート / 位相コントラストX線イメージング / 炭化水素 / ガスハイドレート / ホスト・ゲスト化合物 / 位相差X線イメージング / 粉末X線回折 |
研究概要 |
クラスレートハイドレートのケージ内でのガス分子の分布状態、およびガスの包接量を決定するため、位相コントラストX線イメージング測定と粉末X線構造解析とによる解析方法の最適化した。本研究では、メタン等のガス分子が他の分子と混合した2種類以上の分子を包接したクラスレートハイドレートを主な研究対象とし、これら計測手法を用い、二酸化炭素ハイドレートの非破壊解析やブタン+メタン混合ガスハイドレートの結晶構造解析や結晶の密度を解析、評価した。
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