| 研究課題/領域番号 |
23560887
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
材料加工・処理
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| 研究機関 | 独立行政法人産業技術総合研究所 |
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研究代表者 |
笹本 明 独立行政法人産業技術総合研究所, 先進製造研究部門, 主任研究員 (90357129)
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| 研究期間 (年度) |
2011-04-28 – 2015-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2014年度)
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| 配分額 *注記 |
5,330千円 (直接経費: 4,100千円、間接経費: 1,230千円)
2013年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2012年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
2011年度: 2,470千円 (直接経費: 1,900千円、間接経費: 570千円)
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| キーワード | 渦電流探傷法 / 漏洩磁束法 / き裂形状推定 / 特異積分方程式 / 逆解析 / ３軸磁気センシング / 渦電流探傷 / 境界積分方程式 / 逆問題 |
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| 研究成果の概要 |
亀裂が表面や内包された半無限導体に、電位差法をその表面に適用した場合の表面電位を表現する陽的な解を構成し、その数値計算を行った。空間２次元ではあるが、漏洩磁束法など磁気計測探傷法での利用が期待される。亀裂両端でノイマン値、ディリクレ値のそれぞれに差を有するLaplace方程式の可解性を示した。小型半導体３軸磁気センサを用いて３方向の磁場強度を計測できるプローブを専用アンプ回路と共に設計して製作した。このプローブによって表面亀裂を有する磁性金属平板の表面の漏洩磁束を計測したところ、３軸それぞれに今後の逆解析の基礎的知見となりうる興味深い計測値が計測された。
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