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表面プラズモンポラリトンを介した自由な低速光電子と光との間の相互作用の実証

研究課題

研究課題/領域番号 23656032
研究種目

挑戦的萌芽研究

配分区分基金
研究分野 薄膜・表面界面物性
研究機関大阪大学

研究代表者

永富 隆清  大阪大学, 大学院・工学研究科, 助教 (90314369)

研究期間 (年度) 2011 – 2012
研究課題ステータス 中途終了 (2011年度)
配分額 *注記
4,030千円 (直接経費: 3,100千円、間接経費: 930千円)
2012年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2011年度: 2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
キーワード表面プラズモンポラリトン / 光電子 / X線光電子 / 金ナノ粒子
研究概要

本研究課題では,世界で初めて,自由電子である低速光電子と光の間の表面プラズモンポラリトンを介した相互作用を実験的に実証し,実用的なプラズモニックデバイスにおける表面プラズモンポラリトン励起ダイナミクスを調べるための新手法,「フェムト秒光電子スペクトロ顕微鏡」及び「フェムト秒大気圧光電子分光法」の実現の可能性を探ることを目的とした.そのために最終年度には,基板上へ作製したAuナノ粒子試料に対して,X線光電子分光装置内で可視光並びに紫外光を照射して表面プラズモンポラリトン励起を行い,表面プラズモンポラリトンを介した低速光電子と光との相互作用の存在を実証することを試みた.これを実現するために実験条件の検討を行い,Auナノ粒子試料はガラス基板上に作製することとした.これは,基板背面からレーザーを照射することで,レーザーによる表面プラズモンポラリトンの励起効率と光電子の検出効率を同時に向上させるためである.本手法は,ガラス基板への光照射によって誘起される基板の帯電を中和させるためにも有効であることを確認した.この測定条件を実現するための背面光照射試料ホルダーも開発した.可視光並びに紫外光導入系については,汎用のX線光電子分光装置での測定を実現するために,小型軽量な光学系を設計,試作した.これらホルダーと測定系を試作し,相互作用の有無を光電子スペクトルにより検出することを試みた.しかしながら現段階では,未だ存在を実証できる段階には至っていない.現在までに,今後実証するための改善策を検討し,パルスレーザーの採用が有効であると考えている.

報告書

(2件)
  • 2011 実施状況報告書   実績報告書
  • 研究成果

    (20件)

すべて 2012 2011 その他

すべて 雑誌論文 (7件) (うち査読あり 7件) 学会発表 (12件) 図書 (1件)

  • [雑誌論文] 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性に基づいた傾斜ホルダーを利用した高感度,高深さ分解能オージェ深さ方向分析2012

    • 著者名/発表者名
      荻原俊弥, 永富隆清, 金慶中, 田沼繁夫
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis

      巻: 18 ページ: 174-181

    • NAID

      130005141467

    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Changes in Ionization Potentials of MgO and CaO Films upon Heating in Air and Vacuum Investigated by Metastable De-excitation Spectroscopy2012

    • 著者名/発表者名
      K. Yoshino, Y. Morita, T. Nagatomi, M. Terauchi, T. Tsujita, Y. Doi, T. Nakayama, Y. Yamauchi, M. Nishitani, M. Kitagawa, Y. Yamauchi, Y. Takai
    • 雑誌名

      Applied Surface Science

      巻: 259 ページ: 135-141

    • DOI

      10.1016/j.apsusc.2012.07.005

    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性に基づいた傾斜ホルダーを利用した高感度,高深さ分解能オージェ深さ方向分析2012

    • 著者名/発表者名
      荻原俊弥,永富隆清,金慶中,田沼繁夫
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis

      巻: 18 ページ: 174-181

    • NAID

      130005141467

    • 関連する報告書
      2011 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Investigation of Measurement Conditions of Metastable De-excitation Spectroscopy of MgO Thin Films Used for Plasma Display Panels2011

    • 著者名/発表者名
      K. Yoshino, Y. Morita, T. Nagatomi, M. Terauchi, T. Tsujita, T. Nakayama, Y. Yamauchi, M. Nishitani, M. Kitagawa, Y. Yamauchi, and Y. Takai
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis

      巻: 18 ページ: 13-25

    • 関連する報告書
      2011 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Effects of Carbon Contaminations on Electron-Induced Damage of SiO2 Film Surface at Different Electron Primary Energies2011

    • 著者名/発表者名
      T. Nagatomi, H. Nakamura, Y. Takai, T. Ogiwara, T. Kimura, and S. Tanuma
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis

      巻: 18 ページ: 26-35

    • 関連する報告書
      2011 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Improvement in Discharge Delay Time by Accumulating Positive Wall Charges on Cathode MgO Protective Layer Surface in Alternating-Current Plasma Display Panels2011

    • 著者名/発表者名
      K. Yoshino, T. Nagatomi, Y. Morita, T. Oue, N. Kosugi, M. Nishitani, M. Kitagawa, and Y. Takai,
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 50 号: 2R ページ: 026201-026201

    • DOI

      10.1143/jjap.50.026201

    • NAID

      40018283331

    • 関連する報告書
      2011 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Approach to Quantitative Evaluation of Electron-Induced Degradation of SiO2 Film Surface with Different Amounts of Carbon Contaminations2011

    • 著者名/発表者名
      T. Nagatomi, H. Nakamura, Y. Takai, and S. Tanuma
    • 雑誌名

      e-Journal of Surface Science and Nanotechnology

      巻: 9 ページ: 277-288

    • DOI

      10.1380/ejssnt.2011.277

    • NAID

      130004439284

    • ISSN
      1348-0391
    • 関連する報告書
      2011 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] オージェ電子分光法分析における電子線誘起試料損傷の標準化とデータベース化 -SiO2薄膜表面の損傷過程-2012

    • 著者名/発表者名
      永富隆清, 田沼繁夫
    • 学会等名
      第32回 表面科学 学術講演会
    • 発表場所
      東北大学さくらホール(招待講演)
    • 年月日
      2012-11-20
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] DP-WG活動と関連ソフトウェアの開発2012

    • 著者名/発表者名
      永富隆清, DP-WG
    • 学会等名
      2012年度実用表面分析講演会
    • 発表場所
      秋田県産業技術センター
    • 年月日
      2012-10-12
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] 相対感度係数を用いたスパッタ深さプロファイルの定量解析のためのソフトウェア開発2012

    • 著者名/発表者名
      永富隆清, DP-WG
    • 学会等名
      2012年度実用表面分析講演会
    • 発表場所
      秋田県産業技術センター
    • 年月日
      2012-10-11
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] DP-WG活動報告2012

    • 著者名/発表者名
      石津範子, 永富隆清、DP-WG
    • 学会等名
      2012年度実用表面分析講演会
    • 発表場所
      秋田県産業技術センター
    • 年月日
      2012-10-11
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] AES & XPS-均質物質定量分析のための実験的に求められた相対感度係数の使用指針(ISO18118, JIS K 0167)-均質物質の正しい定量分析-2012

    • 著者名/発表者名
      永富隆清
    • 学会等名
      表面分析実用化セミナー12
    • 発表場所
      きゅりあん(品川区立総合区民会館)
    • 年月日
      2012-07-31
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] 深さ方向分析における深さ分解能、界面幅及び界面位置に関するアンケート調査結果について2012

    • 著者名/発表者名
      永富隆清
    • 学会等名
      第39回表面分析研究会
    • 発表場所
      古河電気工業株式会社 横浜研究所(招待講演)
    • 年月日
      2012-06-25
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] Investigation of Effects of Heating in Air on Ionization Potentials of MgO and CaO Films Using Metastable De-Excitation Spectroscopy2011

    • 著者名/発表者名
      K. Yoshino, Y. Morita, M. Terauchi, T. Tsujita, Y. Doi, Y. Yamauchi, M. Nishitani, M. Kitagawa, T. Nagatomi, Y. Takai, T. Nakayama, and Y. Yamauchi
    • 学会等名
      Society For Information Display '11 (SID 2011)
    • 発表場所
      Los Angeles, California, U.S.A
    • 関連する報告書
      2011 実施状況報告書
  • [学会発表] Surface Defect Influence on the Ion Induced Secondary Electron Emission Yield from MgO Films2011

    • 著者名/発表者名
      Sung Heo, J.G. Chung, H.-I. Lee, J.C. Lee, H.J. Kang, T. Nagatomi and Y. Takai
    • 学会等名
      8th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '11 (ALC'11)
    • 発表場所
      Seoul, Republic of Korea
    • 関連する報告書
      2011 実施状況報告書
  • [学会発表] Effects of Carbon Contaminations on Electron-Induced Degradation of SiO22011

    • 著者名/発表者名
      T. Nagatomi, H. Nakamura, Y. Takai and S. Tanuma
    • 学会等名
      14th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'11)
    • 発表場所
      Cardiff, UK
    • 関連する報告書
      2011 実施状況報告書
  • [学会発表] Effects of Heating in air and Vacuum on Ion-Induced Secondary Electron Yield of MgO Film2011

    • 著者名/発表者名
      Y. Murasawa, H. Kataoka, T. Nagatomi, Y. Takai, K. Yoshino, Y. Morita, M. Nishitani and M. Kitagawa
    • 学会等名
      14th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'11)
    • 発表場所
      Cardiff, UK
    • 関連する報告書
      2011 実施状況報告書
  • [学会発表] AES & XPS-均質物質定量分析のための実験的に求められた相対感度係数の使用指針(ISO18118,JIS K 0167)-均質物質の正しい定量分析-

    • 著者名/発表者名
      永富隆清
    • 学会等名
      表面分析実用化セミナー '11 - 日常的な分析業務におけるJIS並びにISO規格の利用(招待講演)
    • 発表場所
      大阪
    • 関連する報告書
      2011 実施状況報告書
  • [学会発表] 深さ方向分析における深さ分解能,界面幅及び界面位置に関するアンケート調査結果について

    • 著者名/発表者名
      永富隆清
    • 学会等名
      第31回表面科学学術講演会(招待講演)
    • 発表場所
      東京
    • 関連する報告書
      2011 実施状況報告書
  • [図書] 分析化学用語辞典2011

    • 著者名/発表者名
      日本分析化学会編
    • 総ページ数
      560
    • 出版者
      オーム社
    • 関連する報告書
      2011 実施状況報告書

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公開日: 2011-08-05   更新日: 2019-07-29  

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