| 研究概要 |
本研究においては, まず, 磁壁移動・磁束変化の同時計測技術が可能な測定系の構築を行った. 加えて, 磁区構造及び磁壁と格子欠陥の相互作用について知見を得ることを目的に, 磁性薄膜に微小欠陥を導入し, 磁区構造の挙動についての評価・考察を行い, 微小欠陥を導入したことにより生じる磁区構造変化やその欠陥位置に磁壁がトラップされることについて実験的に明らかにした. また, 薄膜の微細形状の違いによって磁区構造や磁壁移動挙動に違いが生じることも明らかにした. これらの知見を基に局所領域における磁区構造制御, 磁気特性制御の可能性が示された.
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