| 研究課題/領域番号 |
23740220
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
素粒子・原子核・宇宙線・宇宙物理
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| 研究機関 | 東京大学 (2012-2015)
大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構 (2011) |
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研究代表者 |
樋口 岳雄 東京大学, カブリ数物連携宇宙研究機構, 特任准教授 (40353370)
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| 研究協力者 |
中尾 幹彦 高エネルギー加速器研究機構, 素粒子原子核研究所, 准教授 (80290857)
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| 研究期間 (年度) |
2011-04-28 – 2016-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2015年度)
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| 配分額 *注記 |
4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2014年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2013年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
2012年度: 130千円 (直接経費: 100千円、間接経費: 30千円)
2011年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
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| キーワード | 放射線耐性 / データ収集系 / ビーム試験実験 / 素粒子物理学実験 / 放射線 / 素粒子実験 / 中性子線 / γ線 / 光トランシーバー / FPGA / 磁場耐性 / データ通信エレクトロニクス |
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| 研究成果の概要 |
高エネルギー加速器実験の強放射線・強磁場という特殊な環境で動作可能なデータ収集系について、とくにその部品を研究した。
Belle II実験を例に、10年分のバックグラウンドγ線や中性子線を複数銘柄のFPGA・光通信用トランシーバー・レギュレーター等に照射して、各部品の一時的エラー頻度および恒久的破壊耐性について定量的に評価して論文誌に公表した。また、1Tほどの強磁場中に置いたデータ収集系についても異常は起きないことを確認した。
また、検出器本体の放射線耐性研究も行い、崩壊点検出器ではその部品が十分な放射線耐性をもつことや、検出器自体のセンサー位置が放射線によってほぼ影響を受けないことも確認した。
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