| 研究課題/領域番号 |
23750150
|
|---|
| 研究種目 |
若手研究(B)
|
| 配分区分 | 基金 |
|---|
| 研究分野 |
機能物質化学
|
|---|
| 研究機関 | 東京工業大学 |
|---|
研究代表者 |
藤井 慎太郎 東京工業大学, 理工学研究科, 流動研究員 (70422558)
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
2011 – 2012
|
| 研究課題ステータス |
完了 (2013年度)
|
| 配分額 *注記 |
4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円)
2012年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2011年度: 4,030千円 (直接経費: 3,100千円、間接経費: 930千円)
|
|---|
| キーワード | グラフェン / 電子状態 / プローブ顕微鏡 / ナノ炭素材料 / 表面・界面物性 / ナノ材料 |
|---|
| 研究概要 |
グラフェンの酸化反応とプローブ顕微鏡原子マニピュレーション技術を駆使してナノグラフェンのエッジ状態の作製し、その電子状態の解明を行った。酸化によりパイ電子ネットワークが分断された、ナノフラグメントの作製に成功した。約1-10nm程度のサイズのパイ電子ネットワークでは量子サイズ効果が顕著に現れ多彩な電子状態を示すことが確かめられた。また、２種類の典型的なエッジ構造に特徴的な電子状態の確認に成功した[AngewChem2012]。酸化点欠陥において、原子マニピュレーションにより、エッジ状態すなわち化学活性のON/OFFスイッチングが制御可能であることを見出した[ACSNANO2013]。
|
