| 研究課題/領域番号 |
23750225
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
機能材料・デバイス
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| 研究機関 | 九州大学 |
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研究代表者 |
西堀 麻衣子 九州大学, 大学院・総合理工学研究院, 准教授 (20462848)
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| 研究期間 (年度) |
2011 – 2012
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| 研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
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| 配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2012年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
2011年度: 2,600千円 (直接経費: 2,000千円、間接経費: 600千円)
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| キーワード | 導電機能素子 / 化学センサ / ガスセンサ / 触媒 / 被毒 / in situ XAFS / 集積化 |
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| 研究概要 |
ガスセンサに用いる燃焼触媒の有機シリコン化合物被毒による性能劣化のメカニズムを解明するために、Pd/・-Al2O3触媒に対するヘキサメチルジシロキサン(HMDSO)曝露前後での Pd 状態変化を in situ XAFS により検証した。その結果、酸化雰囲気において Pd は 300℃ 以上で酸化されるが、HMDSO に曝露することで酸化が阻害されることが分かった。また、HMDSO に曝露した触媒に対して水素還元処理を行うことで、酸化雰囲気において再び Pd が酸化されることが分かった。このことは、HMDSO 被毒は触媒への SiO2の物理被覆ではなく有機物の吸着による失活が原因である可能性を示唆している。
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