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溶液成長法によるSiC結晶の欠陥自己修復メカニズムの解明

研究課題

研究課題/領域番号 23860025
研究種目

研究活動スタート支援

配分区分補助金
研究分野 構造・機能材料
研究機関名古屋大学

研究代表者

原田 俊太  名古屋大学, 工学(系)研究科(研究院), 助教 (30612460)

研究期間 (年度) 2011-08-24 – 2013-03-31
研究課題ステータス 採択後辞退 (2012年度)
配分額 *注記
3,250千円 (直接経費: 2,500千円、間接経費: 750千円)
2012年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2011年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
キーワード溶液成長法 / 結晶成長 / 転位 / ステップフロー成長 / X線トポグラフィー / ステップバンチング / パワーデバイス半導体
研究概要

低損失、高耐圧のSiCパワーデバイス実現の『カギ』を握るのが、SiC単結晶の高品質化である。現在、市販されているSiC単結晶には、高密度の欠陥が含まれている。特に貫通らせん転位(TSD)は、電流のリーク源となり、デバイス特性、信頼性の大幅な低下をもたらす事が知られている。本研究では、溶液成長法における、貫通らせん転位の低減に関する研究を実施した。
本年度は、溶液法によって成長したSiC結晶中の欠陥のキャラクタリゼーションおよび、欠陥低減メカニズムに関する研究を実施した。
X線トポグラフィー法および、透過電子顕微鏡法を複合的に用いて、SiC結晶中の欠陥評価を行った結果、溶液成長中に貫通らせん転位が基底面の欠陥に変換していることが明らかとなった。また、貫通らせん転位は、積層欠陥をはさんで複数の部分転位に分解していた。
表面モフォロジーと貫通らせん転位の変換率を比較すると、ステップバンチングによって生じたマクロステップのステップフロー成長によって、効果的に貫通らせん転位が変換することが明らかとなった。また、微傾斜を設けた種結晶を用いて、ステップフロー成長をエンハンスすることによって、貫通らせん転位の変換率を飛躍的に向上させることに成功した。さらに、種結晶の傾斜角度を変化させることによって、貫通らせん転位の変換率を99%以上にまで向上させ、溶液成長法による、貫通らせん転位フリーの、高品質SiC結晶成長の可能性を示した。

報告書

(1件)
  • 2011 実績報告書
  • 研究成果

    (3件)

すべて 2012 その他

すべて 学会発表 (2件) 備考 (1件)

  • [学会発表] Efficient process for ultrahigh quality 4H-SiC crystal utilizing solution growth on off-axis seed crystal2012

    • 著者名/発表者名
      S.Harada, Y.Yamamoto, K.Seki, A.Horio, T.Mitsuhashi, T.Ujihara
    • 学会等名
      Materials research society 2012 spring meeting
    • 発表場所
      San Francisco (USA)
    • 年月日
      2012-04-10
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] SiC溶液成長における貫通らせん転位低減の促進2012

    • 著者名/発表者名
      原田俊太, 山本祐治, 関和明, 堀尾篤史, 三橋貴仁, 宇治原徹
    • 学会等名
      第59回応用物理学関係連合講演会
    • 発表場所
      早稲田大学(東京都)
    • 年月日
      2012-03-17
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [備考]

    • URL

      http://shuntaharada.web.fc2.com/japanese/index.htm

    • 関連する報告書
      2011 実績報告書

URL: 

公開日: 2011-09-05   更新日: 2019-07-29  

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