| 研究課題/領域番号 |
23H00267
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 審査区分 |
中区分29:応用物理物性およびその関連分野
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
梶原 優介 東京大学, 生産技術研究所, 教授 (60512332)
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| 研究分担者 |
木村 文信 東京大学, 生産技術研究所, 助教 (10739311)
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| 研究期間 (年度) |
2023-04-01 – 2027-03-31
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| 研究課題ステータス |
交付 (2024年度)
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| 配分額 *注記 |
47,580千円 (直接経費: 36,600千円、間接経費: 10,980千円)
2024年度: 11,700千円 (直接経費: 9,000千円、間接経費: 2,700千円)
2023年度: 20,540千円 (直接経費: 15,800千円、間接経費: 4,740千円)
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| キーワード | 近接場プローブ顕微鏡 / エバネッセント波 / ナノスケール / 熱 / 熱輸送 |
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| 研究開始時の研究の概要 |
ナノスケールで熱輸送を捉え，かつ要因を分析する技術が強く望まれている背景を踏まえ，電子/陽子，格子など正負電荷の相対運動によって物質表面に生じる熱励起エバネッセント波(波長λ：8～16 μm)を2点で検出し，かつFTIR分析が可能なマルチプローブ型ナノサーマルFTIR技術の確立を目指す．具体的には，独立したAFM駆動系を持つ2本のカーボンナノチューブ探針を試料に近接させて熱励起エバネッセント波を散乱し，低温クライオスタット内に導入したFTIR駆動光学系で高感度検出器に散乱フォトンを導くことによって2点間からのスペクトルをナノスケールで分析可能な技術を構築する．
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