研究課題/領域番号 |
23H01854
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研究種目 |
基盤研究(B)
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配分区分 | 補助金 |
応募区分 | 一般 |
審査区分 |
小区分29020:薄膜および表面界面物性関連
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研究機関 | 龍谷大学 |
研究代表者 |
宮戸 祐治 龍谷大学, 先端理工学部, 准教授 (80512780)
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研究分担者 |
山田 啓文 龍谷大学, 公私立大学の部局等, 研究員 (40283626)
中村 芳明 大阪大学, 大学院基礎工学研究科, 教授 (60345105)
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研究期間 (年度) |
2023-04-01 – 2026-03-31
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研究課題ステータス |
交付 (2023年度)
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配分額 *注記 |
18,980千円 (直接経費: 14,600千円、間接経費: 4,380千円)
2023年度: 10,660千円 (直接経費: 8,200千円、間接経費: 2,460千円)
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キーワード | 熱電物性 / 原子間力顕微鏡 / 計測 |
研究開始時の研究の概要 |
本研究では、以下の5つのテーマを3年間で実施する計画であり、 KFM・AFMポテンショメトリの複合同時計測手法の開発と効用の検証を行うとともに、同手法によってマクロ熱電性能に対するナノ構造や構造界面の寄与を解明する。 1. KFM・AFMポテンショメトリ複合ナノ熱電評価手法の開発 2. FIB加工で高感度で熱揺動が少ないカンチレバーを開発 3. 自由に温度勾配を設定できる試料ホルダの開発 4. 従来手法のSThMによる測定比較(局所熱流計測の試行) 5. 様々な熱電材料を測定し、ナノ熱電物性とマクロな熱電性能との相関を解明
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