研究課題
基盤研究(C)
本研究は,ダイヤモンドと金属または絶縁体との界面におけるキャリア輸送現象と原子レベルの微視的構造との相関を明らかにし,種々の界面欠陥構造が電気伝導特性に与える影響を明らかにすることを目的とする。そのために,「絶縁体/ダイヤモンド界面」および「金属/ダイヤモンド界面」をモデル化した量子輸送シミュレーションを行い,界面構造とキャリア輸送特性との相関を研究する。