研究課題/領域番号 |
23K13710
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研究種目 |
若手研究
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配分区分 | 基金 |
審査区分 |
小区分32010:基礎物理化学関連
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研究機関 | 慶應義塾大学 |
研究代表者 |
豊島 遼 慶應義塾大学, 理工学部(矢上), 助教 (20844806)
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研究期間 (年度) |
2023-04-01 – 2026-03-31
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研究課題ステータス |
交付 (2023年度)
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配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2025年度: 260千円 (直接経費: 200千円、間接経費: 60千円)
2024年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2023年度: 3,640千円 (直接経費: 2,800千円、間接経費: 840千円)
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キーワード | 表面界面 / 触媒 / 化学センサ / X線光電子分光 |
研究開始時の研究の概要 |
軟X線を利用したその場測定は、固体触媒や化学センサなどの表面反応が関わる機能材料の分析に有効である。材料の特性は、化学状態だけでなく、構造にも強く影響されるため、動作原理の真の理解のためには、化学状態と構造をどちらも把握することが必須である。本研究では、化学状態を調べるX線光電子分光と表面構造を調べる共鳴軟X線反射率測定をオペランド環境下において同時測定する新しい分析システムを立ち上げる。表面の化学状態と構造を同時に測定し、それぞれの与える影響を定量的に明らかにすることで、表面機能材料の動作原理を詳細に理解する。
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