研究課題/領域番号 |
23K21124
|
研究種目 |
基盤研究(B)
|
配分区分 | 基金 |
応募区分 | 一般 |
審査区分 |
小区分34020:分析化学関連
|
研究機関 | 東京工業大学 |
研究代表者 |
西野 智昭 東京工業大学, 理学院, 准教授 (80372415)
|
研究分担者 |
藤井 慎太郎 東京工業大学, 理学院, 特任准教授 (70422558)
|
研究期間 (年度) |
2024-04-01 – 2025-03-31
|
研究課題ステータス |
交付 (2024年度)
|
配分額 *注記 |
1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
2024年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
|
キーワード | 単分子接合 / STM / 電気化学 / 電気二重層 / DNA |
研究開始時の研究の概要 |
nmスケールの微小構造体の化学的特性や物性の評価のために高い空間分解能を有する分析法を開発することが喫緊の課題となっている.固体最表面に対しては原子スケールにおける計測法が精力的に開発されている一方,高さ方向に空間分解能を有する計測法は未踏領域として残されている.そこで,本研究では,多岐にわたる化学現象に関与する表面電位に着目し,電極最表面だけでなく,高さ方向にもサブnmオーダーの空間分解能を有する表面電位の三次元計測法を開発する.開発した手法に立脚し,固液界面の電位分布を高分解能で計測し,電気二重層の微視的構造を初めて明らかにする.
|