研究課題/領域番号 |
23K23307
|
研究種目 |
基盤研究(B)
|
配分区分 | 基金 |
応募区分 | 一般 |
審査区分 |
小区分32010:基礎物理化学関連
|
研究機関 | 慶應義塾大学 |
研究代表者 |
近藤 寛 慶應義塾大学, 理工学部(矢上), 教授 (80302800)
|
研究期間 (年度) |
2024-04-01 – 2025-03-31
|
研究課題ステータス |
交付 (2024年度)
|
配分額 *注記 |
2,340千円 (直接経費: 1,800千円、間接経費: 540千円)
2024年度: 2,340千円 (直接経費: 1,800千円、間接経費: 540千円)
|
キーワード | オペランド計測 / 軟X線吸収分光 / 光触媒 |
研究開始時の研究の概要 |
本研究では、電子およびイオンのような電荷をもった粒子を検出することで、真空から大気圧そして液中に至るまでの幅広い測定環境をカバーできる表面XAFS測定システムを立ち上げる。この計測システムを用いて、反応活性種がなかなか同定できない触媒反応や触媒表面での光誘起キャリアーの振る舞いが鍵になる光触媒反応などの反応中の触媒および反応種の化学状態を計測し、その反応機構を明らかにする。
|