研究課題/領域番号 |
23K23419
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研究種目 |
基盤研究(B)
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配分区分 | 基金 |
応募区分 | 一般 |
審査区分 |
小区分35020:高分子材料関連
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研究機関 | 公益財団法人科学技術交流財団(あいちシンクロトロン光センター、知の拠点重点研究プロジェクト統括部) |
研究代表者 |
田代 孝二 公益財団法人科学技術交流財団(あいちシンクロトロン光センター、知の拠点重点研究プロジェクト統括部), あいちシンクロトロン光センター, 上席研究員 (60171691)
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研究分担者 |
山下 義裕 福井大学, 繊維・マテリアル研究センター, 教授 (00275166)
関口 博史 公益財団法人高輝度光科学研究センター, 研究プロジェクト推進室, 主幹研究員 (00401563)
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研究期間 (年度) |
2024-04-01 – 2025-03-31
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研究課題ステータス |
交付 (2024年度)
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配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2024年度: 4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
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キーワード | 極限弾性率 / 高分子結晶 / 広角X線回折 / 小角X線散乱 / 高次組織 |
研究開始時の研究の概要 |
結晶弾性率は、高分子の極限弾性率として重要であるだけではなく、試料の力学物性を向上させるうえでの重要な指針である。評価は力場下でのX線回折測定によって行うが、応力不均一分布が故に正しい値を与えない。本研究では、応力均一分布の仮定の下に評価した「見かけの」結晶弾性率を、種々の高次組織を持った一連の高分子材料について評価し、応力不均一分布を考慮して「真の」結晶弾性率を求める新しい手法開発を目指した。放射光X線を用いて数分で測定する方法であるが、一定歪印加時の応力緩和や一定応力印加時のクリープ現象について考慮した複雑な解析が不可欠で、現在、検討中である。
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