研究課題/領域番号 |
23K26056
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研究種目 |
基盤研究(B)
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配分区分 | 基金 |
応募区分 | 一般 |
審査区分 |
小区分19020:熱工学関連
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研究機関 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
研究代表者 |
山下 雄一郎 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 計量標準総合センター, 主任研究員 (60462834)
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研究分担者 |
中村 芳明 大阪大学, 大学院基礎工学研究科, 教授 (60345105)
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研究期間 (年度) |
2024-04-01 – 2027-03-31
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研究課題ステータス |
交付 (2024年度)
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配分額 *注記 |
9,880千円 (直接経費: 7,600千円、間接経費: 2,280千円)
2026年度: 3,120千円 (直接経費: 2,400千円、間接経費: 720千円)
2025年度: 3,380千円 (直接経費: 2,600千円、間接経費: 780千円)
2024年度: 3,380千円 (直接経費: 2,600千円、間接経費: 780千円)
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キーワード | 薄膜面内熱伝導率測定 / ナノ構造含有異方性薄膜 / 機械学習支援信号解析 / 薄膜熱電材料 |
研究開始時の研究の概要 |
ユビキタス電源として期待される薄膜熱電変換材料の性能は、面内方向の電気特性と面直(膜厚)方向の熱伝導率を用いた、測定方向の矛盾を含む性能指数で評価されている。本研究では、時間領域パルス光加熱サーモリフレクタンス法に、試料を正確に縞状加熱して2次元温度場を形成する技術、及び2次元化に伴う測定データ解析パラメータを克服する高速解析技術を開発・導入して薄膜面内方向の熱伝導率測定を実現する。これら開発技術を用いて結晶性・配向性、界面制御、多層エピタキシャルなど、高度にナノ構造が制御されたユビキタス薄膜熱電材料を舞台に薄膜面内方向の真の熱電変換性能評価に挑戦する。
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