| 研究課題/領域番号 |
23K26540
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| 補助金の研究課題番号 |
23H01847 (2023)
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 基金 (2024)
補助金 (2023) |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 審査区分 |
小区分29020:薄膜および表面界面物性関連
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| 研究機関 | 横浜国立大学 |
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研究代表者 |
大野 真也 横浜国立大学, 大学院工学研究院, 准教授 (00377095)
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| 研究分担者 |
宮内 良広 防衛大学校(総合教育学群、人文社会科学群、応用科学群、電気情報学群及びシステム工学群), 応用科学群, 准教授 (70467124)
吉越 章隆 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構, 原子力科学研究部門 原子力科学研究所 物質科学研究センター, 研究主幹 (00283490)
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| 研究期間 (年度) |
2023-04-01 – 2026-03-31
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| 研究課題ステータス |
交付 (2024年度)
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| 配分額 *注記 |
19,240千円 (直接経費: 14,800千円、間接経費: 4,440千円)
2025年度: 3,510千円 (直接経費: 2,700千円、間接経費: 810千円)
2024年度: 4,030千円 (直接経費: 3,100千円、間接経費: 930千円)
2023年度: 11,700千円 (直接経費: 9,000千円、間接経費: 2,700千円)
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| キーワード | ナノ光学計測 / 層状半導体 / 有機分子 / X線分光計測 / 第一原理計算 |
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| 研究開始時の研究の概要 |
層状半導体ナノスケール構造の局所光学応答を捉える光学測定系の構築と改良を開始した。高精度での試料作製に必要な超高真空システムを合わせて整備中である。測定対象として、CVDグラフェン、TMDフレーク試料などを選択し基礎物性測定を進める。光学計測上の困難は、ドメイン境界やエッジ構造など局所構造からの信号を高精度で検出することである。このため、試料の精密な位置決めと高分解能化を確立させる。更に、放射光光源を用いたX線分光計測(光電子分光、X線吸収)、プローブ顕微鏡(STM,AFM)、汎用光学顕微手法(Raman,PL)を活用する。また、第一原理計算/量子化学計算を活用し光学スペクトルを解釈する。
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