研究課題
基盤研究(B)
本研究では、攻撃者が機器に接近し意図的に電気的な外乱を与えたとしても乱数性が低下しない真性乱数生成環境の開発を行う。具体的には、(1) 外乱印加時の影響評価による乱数生成器に有効な電磁波パラメタを特定し、(2) 攻撃の電気的変化を特徴量とした検知手法の開発を行う。また、(3) 攻撃時の乱数性の低下の特徴を生かしたポストプロセッシング技術の開発により、攻撃時でも動作を止めない乱数生成を行う。さらに (4) ワーストケース評価のために、基板シミュレーション技術を用いて脆弱となる評価環境の開発を行い、上記を統合することで厳しい攻撃にも耐えうる真性乱数生成手法の確立を目指す。