研究課題
基盤研究(B)
本研究では,X線誘起発光を利用したサイト選択的X線吸収スペクトル(XAFS)測定法を構築し,これを用いて固体中の欠陥や発光サイト局所構造を対象としたXAFS測定を行った.一方,XAFSと電子分光法(EELS, EFTEM)を組み合わせ,更に統計学的数値処理を援用することによって,固体触媒中の異なる化学状態を区別した定量的分析や可視化(マッピング)が可能となった.この手法を窒素添加チタニア触媒に応用し,その可視光応答発現メカニズムについて考察した.
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