研究課題/領域番号 |
24500070
|
研究種目 |
基盤研究(C)
|
配分区分 | 基金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
計算機システム・ネットワーク
|
研究機関 | 首都大学東京 |
研究代表者 |
福本 聡 首都大学東京, システムデザイン研究科, 教授 (50247590)
|
研究分担者 |
新井 雅之 日本大学, 生産工学部, 助教 (10336521)
|
研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2015-03-31
|
研究課題ステータス |
完了 (2014年度)
|
配分額 *注記 |
5,330千円 (直接経費: 4,100千円、間接経費: 1,230千円)
2014年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2013年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2012年度: 2,730千円 (直接経費: 2,100千円、間接経費: 630千円)
|
キーワード | 高電磁環境 / 故障モデル / ディペンダブルコンピューティング / 組み込み自己テスト / 周期的な多重故障 / DC-DC コンバータ |
研究成果の概要 |
本研究課題では,高電磁環境下で論理回路に発生する過渡故障を,ディペンダブルコンピューティングにおける新しい故障モデルとして捉え,その同時多重性や周期性といった特徴を踏まえた順序回路の冗長構成手法を構築した.おもな成果は以下の二つである. 1) 過渡故障の継続期間を回路起動時に組み込み自己テスト回路を用いて計測し,ノイズの影響下で回路動作をクロックゲーティングで回避する手法を提案した. 2) デジタル制御電流モード電力変換回路のための適応型サンプリング手法を提案した.スイッチングノイズを回避するために,AD コンバータのサンプル時刻をスイッチング周期のデューティ比から算出する方法の有効性を示した.
|