研究課題
基盤研究(C)
透過型電子顕微鏡を使って電子線CT(医療用X線CTと同じ原理)が行えるが、観察する試料を左右回りに連続回転できる角度に制限(60~70°)があるため、断層像はナノ(nm)の細かさではあっても、歪んだり、偽像(本来はない像)が現れたりしてきた。これを解決するために、これまで、断層像を演算する方法を、独自の離散数学を駆使した方法に変える提案をしてきた。その結果、前回の提案よりも更に改良され、より複雑な形や構造の試料にも対応する汎用的な方法が新たに開発できた。加えて撮影する試料回転のステップ数をかなり減らせることを検証した。
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