| 研究課題/領域番号 |
24540389
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物性Ⅱ
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| 研究機関 | 公益財団法人高輝度光科学研究センター |
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研究代表者 |
河村 直己 公益財団法人高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門, 副主幹研究員 (40393318)
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| 研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2015-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2014年度)
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| 配分額 *注記 |
5,070千円 (直接経費: 3,900千円、間接経費: 1,170千円)
2014年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2013年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2012年度: 2,730千円 (直接経費: 2,100千円、間接経費: 630千円)
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| キーワード | 強相関電子系 / 量子相転移 / 価数揺動 / X線吸収分光 / X線発光分光 / 高圧 / 量子臨界現象 |
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| 研究成果の概要 |
強相関4f電子系化合物で見られる量子相転移現象を価数ゆらぎという観点から理解するために、低温・強磁場・高圧という複合極限環境の下でのX線分光測定を実施した。高精度・高分解能スペクトルの取得を実現し、また価数評価法の確立とその精密化に成功した。これらの手法を用いてCeおよびYb化合物を中心に価数評価を行い、物性測定（電気抵抗や磁化率など）で作成された相図上に価数マッピングを行うことで、量子臨界現象と価数との相関を調べることができるようになった。本研究課題で開発された手法は、原理的にすべての希土類化合物に適用可能であり、今後、物性と価数との相関に関する新たな知見が得られることが期待される。
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