研究課題
基盤研究(C)
高精度で結晶グレインやそれに伴う格子ひずみを観察できるシンクロトロン放射光を用いたX線トポグラフィーの手法を用いて、欠陥密度の少ないGaN結晶についてμmオーダーでの結晶面の傾きのずれと結晶の面間隔の伸縮を分離し画像として可視化した。さらに解析結果から結晶欠陥について考察した。また、新たに超高真空装置を立ち上げ、GaN結晶の表面構造を超高真空中で加熱しながら、反射高速電子回折装置で観察し、構造変化について考察した。
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すべて 雑誌論文 (1件) (うち査読あり 1件) 学会発表 (5件) (うち招待講演 3件)
Applied Surface Science
巻: 282 ページ: 297-301
10.1016/j.apsusc.2013.05.122