研究課題
基盤研究(C)
リアルタイム計測が困難な製品品質のフィードバック制御を可能にし,生産効率を高めるためには,プロセスの運転状態から品質を推定する仮想計測技術(ソフトセンサー)が不可欠である.本研究では,原料や装置特性が変化する場合,およびそれらに不確定性が存在する場合でも,高精度な推定が行える仮想計測技術を開発し,石油化学,半導体,製剤,鉄鋼など多様なプロセスに適用し,その有効性を確認した.
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すべて 雑誌論文 (5件) (うち査読あり 5件、 謝辞記載あり 2件) 学会発表 (14件) (うち招待講演 2件)
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